1.应变片及应变效应和压阻效应
导体材料在外力作用下产生机械形变时,其电阻值随着发生变化的现象,称为电阻应变效应。图3-7所示为应变片结构图。排列成网状的高阻金属丝、栅状金属箔或半导体片构成压力敏感栅,用黏合剂贴在绝缘的基片上,敏感栅上再覆盖上覆盖层。电阻丝较细,其两端焊有低阻镀锡粗铜丝引线,便于与后续转换元件连接。

图3-7 应变片构造图
以一根圆截面的金属丝为例,设其直径为d,初始电阻为

式中 R——金属丝的初始电阻;
ρ——金属丝的电阻率;
L——金属丝的长度;
A——金属丝的横截面积。
当导体在外力作用下发生机械变形时其电阻值将发生变化,长度变化为
,面积变化为
,则电阻的变化为

由材料力学知,横向收缩εx和纵向伸长εy的关系为

则
对于金属材料,
是由于受力后材料的电阻率发生变化而引起的,往往很小,可以忽略。式中第一项是由电阻丝几何尺寸变化引起的,对某种材料来说,其值是常数。因此,上式可写成为

k=1+2μ称为应变灵敏度系数。由于大多数金属材料的μ=0.3~0.5之间,所以k在1.6~2.0之间。
金属电阻应变片具有分辨率高,非线性误差小;温漂系数小;测量范围大,既能测量静态应变,又能测量动态应变。
对于半导体材料来说,由于
的数值远比(1+2μ)εx大,因此

而电阻率的变化量可由下式表示:

式中 πr——半导体纵向压阻系数;
E——导体材料的弹性模量;
ε——沿半导体小条纵向的应变。
所以
式中 k——半导体应变片的灵敏度系数。
半导体应变片的突出的优点是灵敏度系数高,可测微小应变;机械滞后小;动态特性好;横向效应小;体积小。其主要缺点是:电阻温度系数大;灵敏度系数随温度变化大;非线性严重;测量范围小。因此,在使用时需采用温度补偿和非线性补偿措施。
2.电阻应变片压力传感器结构
(1)应变式压力传感器结构 应变式压力传感器以应变效应为主,为使应变片能感受压力的变化,一般要和弹性变形体仪器使用。常见的变形体有筒式、膜片式、杆式等。

图3-8 筒式压力传感器
1—工作片 2—补偿片
圆筒式压力传感器如图3-8所示,筒的一端通过法兰盘与被测压力接通。当薄壁筒内部受压时,径向膨胀,轴向伸长,圆筒部分外周切向应变量为

式中 D——圆筒外径;
d——圆筒内径;
E——弹性模量;
μ——泊松比
通常在圆筒外壁上贴有两片应变片作为工作片,使它感受筒表面的切应变(拉伸应变);另两片贴在筒的实心部分,它不发生应变,只作温度补偿用。四片应变片组成一个测量电桥,当被测压力为零时,测量电桥是平衡的,当压力作用于筒壁内腔时,失去平衡的电桥将产生信号输出。
图3-9中的弹性元件是平膜式,被测压力直接作用于膜片下方,应变片贴在膜片的下方。膜片受压向上凸起变形后,靠近边缘部分径向应变较大,为压缩应变;而切向应变较小,中心部分径向和切向应变都比较大,且为拉伸应变。
膜片上任意点的径向应变εr和切向应变εt分别为(https://www.xing528.com)

图3-9 平膜片上应变片分布及应力曲线
a)膜片上的电阻布置 b)膜片应力分布图

式中 δ——膜片厚度;
E——膜片材料的弹性模量;
μ——膜片材料的泊松比;
r0——膜片工作部分的半径。
在膜片中心,r=0处,εr和εt均均达到最大,在膜片边缘rrrr0,此εt=0εεr为最小,且是负值,当
时εεr=0。
根据应变分别情况,粘贴4只应变片,其中,两只贴在中心部位,沿切向粘贴;两只贴在靠边缘部位,沿径向粘贴。4只应变片中,两只为拉伸应变,电阻增加,另两只为压缩应变,电阻减小。4只应变片组成全桥差动结构,具有最高的灵敏度和最小的非线性误差。
(2)压阻式压力传感器结 压阻式压力传感器以半导体应变片为主,常用的弹性变形体是单晶硅膜片。因此,半导体应变片可采用集成电路技术直接在弹性元件上行成扩散电阻。在膜片上扩散四只应变电阻,形成一个全桥测量电路。压阻式压力传感器的特点是体积小,结构简单,灵敏系数大。
半导体应变片以压阻效应为主。半导体是掺杂的单晶硅、锗等。尤其以单晶硅最为常见。力作用在单晶硅上,由于压阻效应,单晶硅电阻发生变化。为提高传感器的灵敏度,应在压阻系数大的晶面上制作压敏电阻。单晶硅压敏电阻阻值相对变化量为

式中 σr——压敏电阻的径向应力,σr=εrE;
σt——压敏电阻的轴向应力,σt=εtE。
图3-10所示为压阻式压力传感器结构示意图,其核心是为一块有四个扩散电阻的单晶硅膜片,用一个环形硅环固定,将两个气室隔开。
两个气室分别与被测压力p1、p2相通,膜片两边存在压力差时,膜片产生变形,膜片上各点产生应力。四个电阻在应力作用下,阻值发生变化,电桥失去平衡,输出相应的电压,电压与膜片两边的压力差成正比。

图3-10 压阻式压力传感器结构示意图
a)内部结构 b)硅膜片示意图
3.电阻应变片压力传感器的测量桥路及其补偿
(1)测量电桥 由应变片的应变效应可知,压力使其电阻发生变化,测出电阻的这种变化就能测出压力。实际上,电阻的变化量相对较小,用一般的仪表难以直接检测,必须采用专门的电路,最常用的电路就是惠斯顿电桥,如图3-11所示。
为使电桥在测量前的输出为零,设计时要求桥臂电阻R1R3=R2R4

图3-11 惠斯顿测量电桥
测量电桥一般采用全等臂工作,即R1=R2=R3=R4,每只桥臂均由应变片构成。设电桥电源电压为Ui,输出电压为Uo,当电桥四个桥臂电阻的相对变化值
,且电桥输出端的负载电阻为无穷大时,电桥输出电压为

式中 k——应变片灵敏度系数;
ε1、ε2、ε3、ε4——分别为4只桥臂应变片的应变量。
为提高惠斯通电桥测量的灵敏度,减小输入输出非线性误差,4只应变片中,最好使R1、R3两只为拉伸应变,电阻增加;另两只R2、R4为压缩应变,电阻减小。4只应变片组成全桥差动结构,具有最高的灵敏度和最小的非线性误差。
(2)温度补偿 应变片电阻值随被测压力变化,但当被测压力为零时,如果环境温度发生变化,应变片电阻值也会发生变化,这种变化严重影响应变片压力传感器的正常工作。4只应变片中,R1、R3两只为拉伸应变,电阻增加;另两只R2、R4为压缩应变,电阻减小。4只应变片组成全桥差动结构,设4只应变片电阻初值R1=R2=R3=R4,拉伸应变和压缩应变电阻变化量均为VR,考虑每只应变片由于温度变化产生的电阻变化量为VRt,则电桥的实际输出为

可见,电桥输出电压与温度变化有关,采用恒压源供电的电桥不能完全消除温度的影响。如将恒压源Ui改为恒流源Is供电,则电桥的输出电压为Uo=IsVR,说明恒流源供电的电桥,其输出不受温度的影响。
零点温度漂移是由于4只应变片电阻值及其温度系数不一致造成的,一般用串、并联电阻的方法补偿,如图3-12所示。其中串联电阻Rs主要起调零作用,并联电阻Rp主要起补偿作用。
由于零点漂移,导致C、D两点电位不等,如当温度升高时,R4增加比较大,使D点的电位低于C点,C、D两点的电位差即为零点漂移。可在R4上并联一个温度系数为负、阻值较大的电阻Rp,用来约束R4的变化。当温度变化时,可减少或消除B、D点之间的电位差,达到补偿的目的。
补偿灵敏度温漂可采用在电源回路中串联二极管的方法。温度升高时,因为灵敏度降低,这时如果提高电桥的电源电压,使电桥的输出适当增大,便可以达到补偿的目的。反之,温度降低时,灵敏度升高,如果使电源电压降低,电桥的输出适当减小,同样可达到补偿的目的。

图3-12 温度偏移补偿电路
一般典型的电阻应变式差压传感器的测量电路原理如图3-13所示。包括采用恒流源供电的惠斯通测量电桥、恒流源、输出放大及电压-电流转换电路等部分。

图3-13 压阻变送器测量电路原理图
免责声明:以上内容源自网络,版权归原作者所有,如有侵犯您的原创版权请告知,我们将尽快删除相关内容。
