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IGBT技术的发展历程

时间:2023-06-25 理论教育 版权反馈
【摘要】:图3-102是IEGT的结构示意图。大量进入到N基区的电子调制了该区电导,使远离集电极一侧的基区也有着较高浓度的过剩载流子分布,从而进一步降低了通态压降,图3-102中也表示了IGBT和IEGT过剩载流子分布的对比情况。图3-102 IEGT的结构示意图2.逆导型IGBT将快恢复续流二极管反并联到IGBT上,用于大功率逆变和斩波,就具备了逆导功能。

IGBT技术的发展历程

晶闸管一样,IGBT可以作为一种电力电子平台器件,即在其上可衍生出多种类型的器件,以适应不同的应用领域需求。

1.高电压、低压降型的IEGT

“注入增强栅”的IGBT(Injection Enhanced Gate Transistor,简称IEGT),融合了IGBT和GTO器件的优点。在通态时相当于PIN二极管,开关特性相当于IGBT。

图3-102是IEGT的结构示意图。它利用促进电子注入效应,控制积蓄在I层的载流子数量,从P发射区注入的空穴在整个N基区被挤到两窄槽间的N沟道区,通过连接阴极电极的P层流出。这一路途阻抗高,N基区附近易于滞留空穴。此时的电子通过槽臂部分沟道进入N基区,以满足电中性条件。大量进入到N基区的电子调制了该区电导,使远离集电极一侧的基区也有着较高浓度的过剩载流子分布,从而进一步降低了通态压降,图3-102中也表示了IGBT和IEGT过剩载流子分布的对比情况。

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图3-102 IEGT的结构示意图

2.逆导型IGBT

将快恢复续流二极管反并联到IGBT上,用于大功率逆变和斩波,就具备了逆导功能。将二极管集成到IGBT芯片中(而不是通过外部加分立元件),就形成了逆导型IGBT,图3-103表示了其结构示意图。(www.xing528.com)

3.高频型IGBT

普通IGBT一般工作在5~20kHz下。当开关频率在100~300kHz时,习惯用功率MOSFET作开关器件,但当耐压达到300V以上时,IGBT比功率MOSFET的工作电流密度高得多。功率增大时,需多只MOSFET并联使用,成本较高。所以现在有公司开发150(硬开关)~300kHz(软开关)的IGBT,工作电压600~1200V,可使成本大大降低、外形明显减小。不过如何处理IGBT比功率MOSFET多出来的“拖尾”电流问题,仍在改进。

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图3-103 逆导型IGBT的结构示意图

4.双向型IGBT

20世纪中期,“交—直—交”的变换(即“整流器—直流环节—逆变器”的组合)成为电力电子应用的主流模式。但在实践中发现,中间直流环节带来了谐波治理和功率因数校正的问题,且制约装置的工作寿命。所以20世纪80年代末,人们就探讨“交—交”矩阵式变换的可行性,十几年来取得了不小的进展。但实用化还存在不少问题,其中之一就是开关器件数量太多。“交—交”矩阵式拓扑需要在输入三相与输出三相共9个节点中各放置一对反并联的开关器件(如IGBT),共用18个开关。如果能开发出双向IGBT,那么器件用量可以减半。在20世纪90年代末,双向IGBT的开发已经起步,它和“交—交”矩阵式变换器相辅相成,可能发展成21世纪电力电子变换的主流产品。

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