IGCT与IGBT是当前功率器件中电流控制型和电压控制型的前沿器件,市场对功率器件高性能的要求推动着两大器件的改进,两者之间的竞争也推动着它们的发展。
目前,对IGCT的改进,主要是对其驱动电路GDU进行提高,对管芯GCT进行优化。
GCT驱动电路的储能单元通常是电解电容,如图2-20所示,其占据了驱动电路上的很大面积。GCT工作的环境通常处于比较高的温度状态,可达125οC。电解电容在高温下其稳定性会受到比较大的影响,特性会退化,时间长了,其电容会显著减小,因而,对于其驱动电路,要保证其周围的温度不能太高。在这方面,陶瓷电容有更优良的特性,可以耐高温,而且和电解电容相比较,单位体积能提供更大的电容量,这样就便于门极驱动电路的集成。
对于IGCT的管芯GCT,在其结构上面也进行了一系列的改进。针对GCT的通态损耗与关断损耗之间的矛盾关系,提出了一个单片双管结构的GCT,结构和原理图如图2-22所示。
对于这两个GCT,进行了不同程度的优化,分别得到低的开通损耗和低的通态压降,对于GCT管A,通态损耗小,开通时电流主要从该管流过,对于GCT管B,其具有较小的关断损耗。工作时,两管同时开通,开通后,电流主要从A管通过,B管只有很小的电流流过,这样,通态损耗比较低。当需要关断时,先关断A,电流换流到管B,此时电路仍然处于开通状态,然后关断B,这样,关断损耗也较小。对于该驱动的实现,其门极驱动要求如下,开通时,同时加上开通信号,关断时,先关断A,然后再关断B,可见,门极关断信号需要两个,这就要求关断电路有两个,在一定程度上提高了驱动电路的复杂性。由于B的开通损耗比较大,因此,A、B关断的时间间隔需要较短,这样可以减少主要电流流过B时的损耗。这段时间如图2-23所示,为t2~t3。
图2-22 双管GCT(www.xing528.com)
图2-23 门极信号的状态
对于GCT的结面,提出了一个新的非平面结构,如图2-24所示。
经过传统的工艺形成J2结面后,在需要推进结面的区域进行离子注入,其他区域用掩模保护起来,通过调整离子注入时的窗口形状和注入剂量可以得到不同的结构。通过对器件的测试可以得到,在通态和断态其与普通结构的GCT并没有很明显的差别,而且功耗也并没有增大。结面的差异选取合适,可以增大其安全工作区,在低温下尤其显著。对于可承受4.5kV的器件,外加2.8kV电压,在25℃下的电流最大可以达到7.2kA,而对于普通的IGCT,采用了单元优化和载流子寿命优化措施后仅可达到5kA,而在125℃高温下,这一优势被缩小了,分别为6.7kA和6kA。而且对于新结构的IGCT,其上可以看到自夹断能力,其感应电压在达到击穿电压时被夹断了,这一现象虽然在IGBT的连接中被广泛的描述,但在大面积的IGCT中是首次发现。
图2-24 GCT的非平面结构
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