【摘要】：我们从6.4节知道，由于SEFI的响应通常是复杂电路的某些未识别部分被单粒子翻转诱发的结果，而且用户对造成功能中断响应的根本原因知之甚少，或者根本不了解。
从原则上讲，除了EDAC方法以外，所有适用于单粒子翻转防护的方法都可以应用在单粒子功能中断的减缓设计。因此，看起来针对SEFI的减缓设计应当是比较简单明了，但是具体实现起来也比较复杂。我们从6.4节知道，由于SEFI的响应通常是复杂电路的某些未识别部分被单粒子翻转诱发的结果，而且用户对造成功能中断响应的根本原因知之甚少，或者根本不了解。而且，从制造商处获得器件这一特别的信息几乎是不可能的。还有，对于复杂微处理器，SEFI或“挂起”响应可以是随着电路即时操作而变化的函数。例如应用程序之间的交互过程、特定的计算及其流程和高速缓冲等，这些问题的难以确定和解决使得具体针对单粒子功能中断的减缓设计基本上不可能实现，而且现代电子系统和设备中经常采用的基于SRAM的可重构FPGA器件也可能会成为单粒子功能中断的牺牲品，如SEFI无意中对编程框架进行了重新配置。但对于标准集成电路来说，考虑一个系统级单粒子功能中断防护设计时，可以考虑一个诸如此类的看门狗计时器电路、使用频繁的关键电路配置位比较方法及刷新和其他外部电路设计方法等。但是，如前面所述，这些外部监控和控制电路必须具有总剂量抗辐射加固性能，而且也增加了系统开销。(www.xing528.com)
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