故障注入的流程与方法

故障注入的流程主要包括四个部分：故障模型的选择，执行故障注入，系统行为监测和试验结果分析。

首先在确立故障注入目标之后，需要根据具体的试验目的对故障模型进行选择，如测试电路系统对存储单元SEU效应的敏感性，对各个节点上SET效应的敏感性，或者为了测试某一特定加固电路系统的可靠性等。

其次，在选择了故障模型和确立相关参数之后，由故障注入工具控制，对故障注入目标自动地进行若干次的故障注入试验，对于基于仿真的故障注入，其故障注入执行主要通过两种方法实现：一是基于仿真器命令对电路状态进行修改以实现故障注入，二是对通过修改电路的硬件模型，从内部自动地产生故障。两种方法在对Verilog描述的设计目标进行故障注入时，都可以自动化实现，而前者相对而言较为简单并且能够满足故障模型的要求，故本试验中选择基于仿真器命令的方式实现故障注入。(www.xing528.com)

最后是试验结果的检测和分析，对于电路系统可靠性评价的表征参数较多，如MTTF/MTBF、覆盖率、潜伏期等，在本试验设计的故障注入工具中，检测以下系统行为：故障注入后电路状态是否发生变化，监测信号是否发生变化，监测信号是否恢复正常等，这些检测主要通过与正常运行状态进行比较而得出。

目前有多种处理器故障注入方法，不同的注入方法在可观察性、可控性、对处理器正常行为的干扰程度以及时间费用开销方面都不相同，常用的故障注入方法分为硬件故障模拟注入方法、软件故障模拟注入方法、模拟仿真故障注入方法、混合故障注入方法以及电路模拟故障注入方法等若干种。