【摘要】：准黄金芯片法是在黄金芯片比较法的基础上发展而来的，其主要是通过将被测芯片的输出信号序列和一个标准信号序列进行比较，从而避免了黄金芯片比较法的部分局限性。准黄金芯片法是单粒子效应测试中最常用的方法之一，在单粒子效应试验研究中，由于采用这种方法时，测试硬件装置设计及加工容易，在单粒子效应研究试验的中期发展阶段，许多研究工作者都采用计算机辅助式的测试硬件装置来评估许多器件的单粒子效应敏感性。
准黄金芯片法是在黄金芯片比较法的基础上发展而来的，其主要是通过将被测芯片的输出信号序列和一个标准信号序列进行比较，从而避免了黄金芯片比较法的部分局限性。在硬件实现上，就是将作为比较参考的黄金芯片用一个计算机来替代，也就是在待测器件处于重离子或脉冲激光辐照时，其每一个输出信号都与规定的已知数值进行比较，如果比较结果出现差异，那么就认为发生了单粒子事件。对FIFO存储器来说，准黄金芯片法是最好的单粒子效应测试方法，当一个确定的“位型”反复重置于存储器时，在每次重写前，都对原写入状态进行读取，如果读取的“位型”状态不正确，那么认为在FIFO存储器的控制逻辑部分或循环缓冲部分发生了单粒子事件。
准黄金芯片法是单粒子效应测试中最常用的方法之一，在单粒子效应试验研究中，由于采用这种方法时，测试硬件装置设计及加工容易，在单粒子效应研究试验的中期发展阶段，许多研究工作者都采用计算机辅助式的测试硬件装置来评估许多器件的单粒子效应敏感性。(www.xing528.com)
如同黄金芯片比较法一样，待测器件的输入信号序列的状态数目也限制了准黄金芯片法的应用范围；同时，由于要对待测器件所有输出信号与规定数值进行比较，这个过程也耗费一定时间，因而，准黄金芯片法测试系统设计中，对待测器件工作频率也有一定的限制及要求。
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