精准测量圆柱直齿渐开线花键的量规

GB/T 3478.5—2008《圆柱直齿渐开线花键（米制模数 齿侧配合）第5部分：检验》中，以规范性附录的形式，对圆柱直齿渐开线花键量规的种类、代号、术语、各种量规的结构、尺寸及公差等内容作了规定。

（1）量规种类、代号功能、特征及使用规则见表9-201。

表9-201 量规种类、代号、功能、特征及使用规则

（2）量规的术语、代号及单位见表9-202。

（3）量规公差带。根据GB/T 3478.5—2008《圆柱直齿渐开线花键检验方法》的规定，对于花键的齿槽宽和齿厚的检验，采用综合检验法时，用量规检验的花键尺寸，对于内花键齿槽宽，其作用齿槽宽最小值E_vmin、作用齿槽宽最大值E_vmax和实际齿槽宽最大值E_max等三个极限尺寸分别采用综合通规T_S、综合止规Z_S和非全齿止规Z_Fs进行检验、见图9-13。对于外花键齿厚，其作用齿厚最大值S_vmax、作用齿厚最小值S_vmin和实际齿厚最小值S_min等三个极限尺寸分别采用综合通规T_h、综合止规Z_h和非全齿止规Z_Fh进行检验，如图9-14所示。

GB/T 3478.5—2008规定的量规公差带见图9-15。

表9-202 量规的术语、代号及单位

图9-13 内花键齿槽宽量规检验

图9-14 外花键齿厚量规检验

图9-15 量规公差带的位置

（4）量规结构、尺寸及公差（见表9-203～表9-211）。

表9-203 综合通端环规（T_h）结构、尺寸及公差

注：标记示例：

检验EXT 24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.1—2008工件外花键的综合通端环规的标记为：

T_h24z×2.5m×30R×5H GB/T 3478.5—2008

表9-204 综合通端环规用校对塞规（J_T）结构、尺寸及公差

（续）

注：标记示例：

检验EXT 24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.1—2008工件外花键的综合通端环规用校对塞规的标记为：

J_T24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.5—2008

表9-205 非全齿止端环规（Z_Fh）结构、尺寸及公差

注：标记示例：

检验EXT 24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.1—2008工件外花键非全齿止端环规的标记为：

Z_Fh 24z×2.5m×30R×5H GB/T 3478.5—2008

表9-206 非全齿止端环规用校对塞规（J_zF）结构、尺寸及公差

注：标记示例：

检验EXT 24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.1—2008工件外花键的非全齿止端环规用的校对塞规的标记为：

J_ZF24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.5—2008

表9-207 综合止端环规（Z_h）结构、尺寸及公差

（续）

注：标记示例：(www.xing528.com)

检验EXT 24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.1—2008工件外花键的综合止端环规的标记为：

z_fh24z×2.5m×30R×5H GB/T 3478.5—2008

表9-208 综合止端环规用校对塞规（J_z）结构、尺寸及公差

注：标记示例：

检验EXT 24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.1—2008工件外花键的综合止端环规用校对塞规的标记为：

J_Z 24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.5—2008

表9-209 综合通端塞规（T_S）结构、尺寸及公差

注：标记示例：

检验INT 24z×2.5m×30R×5H GB/T 3478.1—2008工件内花键的综合通端塞规的标记为：

T_S24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.5—2008

表9-210 非全齿止端塞规（Z_Fs）结构、尺寸及公差

（续）

注：标记示例：

检验INT 24z×2.5m×30R×5H GB/T 3478.1—2008工件内花键的非全齿止端塞规的标记为：

Z_FS24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.5—2008

表9-211 综合止端塞规（Z_S）结构、尺寸及公差

注：标记示例：

检验INT 24z×2.5m×30R×5H GB/T 3478.1—2008工件内花键的综合止端塞规的标记为：

Z_S24z×2.5m×30R×5f GB/T 3478.5—2008

量规的齿形公差F_α、齿距累积公差F_p和齿向公差F_β等单项公差数值见表9-212。非全齿通端量规的齿数见表9-213。

表9-212 量规的单项公差 （μm）

表9-213 非全齿通端量规齿数

量规齿槽宽和齿厚公差数值见表9-214。对于分度圆直径大于180mm的量规，可按分度圆直径为180mm的量规取值。校对量规J_T、J_Z和J_ZF应在其大径上标记A、B、C截面位置刻线。

表9-214 量规的公差值 （μm）

注：公差和位置要素H、Z、Y、W参见图9-15。

表9-215 量规测量部分的最小长度 （mm）

各种量规测量部分的最小长度见表9-215。对于校对塞规J_T、J_Z和J_ZF，其测量长度与下列因素有关：

（1）校对塞规锥形齿面部分的测量长度，应大于其最小测量长度，最小测量长度等于环规制造公差与磨损公差之和。

（2）校对塞规的齿面锥度和磨损公差，取决于环规磨损公差。

（3）对于分度圆直径大于180mm的大直径量规的检测长度，通规可取分度圆直径的30%，止规可取分度圆直径的20%。

（4）量规应有一个引导长度、使用方便。

（5）分度圆直径大于50mm的量规，其测头和手柄采用分离式的；分底圆直径小于50mm的量规，其测头和手柄一般采用整体形式制造。