圆柱渐开线直齿花键的检验与应用方法

GB/T 3478.1—2008规定了对渐开线花键齿槽宽和齿厚的三种综合检验法和一种单项检验法。

综合检验法是用一个形状与被检测的内花键或外花键相对应的花键综合通规（塞规或环规）来判断花键的各要素是否超过所规定的最大理论边界。同时，用检验各单项要素的止规分别检测判断各单项要素是否超过所规定的最小实体尺寸。标准规定的综合检验法分为基本方法、方法A和方法B三种。

基本方法是采用综合通端花键量规（塞规或环规）控制内花键作用齿槽宽最小值E_{v min}或外花键作用齿厚最大值S_{v max}，从而控制作用侧隙的最小值C_{v min}。同时，用非全齿止端花键量规（塞规或环规）或测量M值（棒间距M_Ri或跨棒距M_Re），对外花键可测量公法线平均长度W值，控制内花键实际齿槽宽最大值E_max或外花键实际齿厚最小值S_min。从而控制内花键、外花键的最小实体尺寸。对于常用的花键，当只控制花键的最大实体状态和最小实体状态就可以满足设计要求时、应选用基本方法进行检验。基本方法可保证花键副的综合公差和加工公差T相互补偿，检验效率高，互换性在产品中易于得到保证，控制总公差（T+λ）达到设计要求，是批量生产中最常用的检验方法。

方法A，是在基本方法的基础上增加用综合上端花键量规（塞规或环规）控制内花键作用齿槽宽最大值E_{v max}或外花键作用齿厚最小值S_{v min}，从而控制作用侧隙的最大值C_{v max}。方法A适用于花键副作用侧隙有公差要求的情况。对于需要控制最大作用侧隙的花键联结，如双向转动并有回程要求的运动机构，应当采用方法A进行检验。(www.xing528.com)

方法B，是用综合通端花键量规和综合上端花键量规（塞规或环规）分别控制内花键作用齿槽宽最小值E_{v min}和最大值E_{v max}或外花键作用齿厚的最大值S_{v max}和最小值S_{v min}，从而控制作用侧隙的最小值C_{v min}和最大值C_{v max}。这种方法是须在采用方法A时，经过批量生产证明，工艺质量稳定后，方可采用；如果工艺质量出现波动，可能影响产品质量时，还是应当采用方法A为佳。方法B和方法A是基本相同的检验方法，方法B只是将内花键实际齿槽宽最大值E_max和外花键实际齿厚最小值S_min作为工艺保证尺寸，只进行抽查检验或定期检验，因此，方法B最适用于工艺稳定，能够保证综合公差λ和作用侧隙有公差要求的花键副。

GB/T 3478.1—2008规定了一种单项检验法。单项检验法是采用常规测量方法分别检测花键的各单项要素的实体尺寸、几何误差，来间接判断花键各要素是否超越所规定的最大理论边界；用测得的各要素的实际尺寸来判断花键是否合格。标准规定的单项检验法是用非全齿通规和非全齿止规，或测量棒间距M_Ri，控制内花键实际齿槽宽最大值E_max和最小值E_min，用非全齿通规和非全齿止规，或跨棒距M_Re或公法线平均长度W值，控制外花键实际齿厚最大值S_max和最小值S_min。同时，用测量齿距累积误差、齿形误差和齿向误差，控制综合误差。齿距累积误差和齿向误差允许在花键分度圆附近测量。单项检验法适用于单件或小批量生产、工艺分析、质量分析、无量规，以及因尺寸偏大或偏小而无法制造量规的花键。

采用上述检验方法时，应在花键产品图样上标注该方法涉及的项目及其数值。