可以按照统计公差通用要求和特定要求在相关图样和技术文件中分别用符号和数值表示。
(1)统计公差通用要求的标注:ST是统计公差符号,也是英文statistical tolerance的缩写。当设计者对某个具有双侧规范的尺寸或质量特性要求制造过程应用统计过程控制而无特定质量目标要求时,采用统计公差符号ST并标注在该尺寸或质量特性公差带代号后面。
示例:
ϕ35h5(0-0.011)ST
统计公差符号ST采用和尺寸及公差带代号同等大小的大写英文字体并加粗,ST前有一个字符的间距。
(2)统计公差特定要求的标注:当设计者对某个具有双侧规范的尺寸或质量特性要求制造过程应用统计过程控制并有特定质量目标要求时,采用统计公差符号ST、特定质量指标或过程能力指数的符号及统计公差值并标注在该尺寸或质量特性公差带代号后面。
由于中、下层统计公差和特定制造环境相关,统计公差在图样上的标注方式只涉及上层统计公差,即设计者对该质量特性的过程质量指标或兼顾过程位置与离散特性的指数Cpk、Cpm。
1)由单一数值表示的质量指标的统计公差标注
示例1:过程不合格率的统计公差标注
ϕ35h5(0-0.011)ST:Pd≤0.016%
示例2:过程中间区(T∶Wc=3∶1)率的统计公差标注
ϕ35h5(0-0.011)ST:Pc(34.9945±0.00183)≥80%
其中:35为公称尺寸,34.9945为目标值,即M=34.9945,35为最大极限尺寸,(35-0.011)为最小极限尺寸;T=0.011,。
示例3:过程中间区(T∶Wc=2∶1)率的统计公差标注(www.xing528.com)
ϕ35h5(0-0.011)ST:Pc(34.9945±0.00275)≥94%
其中:35为公称尺寸,34.9945为目标值,即
M=34.9945,35为最大极限尺寸,(35-0.011)为最小极限尺寸;T=0.011,。
示例4:过程平均质量损失率的统计公差标注
ϕ35h5(0-0.011)ST:Pql≤6.3%
2)由单一数值表示的过程能力指数的统计公差标注
示例1:过程能力指数Cpk的统计公差标注
ϕ35h5(0-0.011)ST:Cpk≥1.20
示例2:过程能力指数Cpm的统计公差标注
ϕ35h5(0-0.011)ST:Cpm≥1.20
(3)多个质量目标的统计公差标注:采用统计公差符号及相关质量目标表达式的联立形式。
示例:过程不合格率和中间区(T∶Wc=3∶1)率两项要求的统计公差标注
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