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任务训练:共射放大电路仿真分析

时间:2023-06-25 理论教育 版权反馈
【摘要】:仿真测试11.测试任务共射放大电路交直流并存特性的测试。共射放大电路静态工作点对放大电路影响的测试。仿真测试31.测试任务分压式偏置共射放大电路静态工作点稳定性的测试与分析。图2.27分压式偏置共射放大电路静态工作点稳定性的仿真测试电路读取三极管2N2924和2N3393的β(即Bf)值。

任务训练:共射放大电路仿真分析

仿真测试1

1.测试任务

共射放大电路交直流并存特性的测试。

2.任务要求

按测试步骤完成所有测试内容。

3.测试器材

Multisim 2010仿真平台。

4.任务实施步骤

(1)按图2.24画好仿真电路,其中RP=500 kΩ,滑动触头在44%的位置。

(2)电路输入端输入1 kHz、10 mV的低频信号,输出端接上示波器观察波形。

(3)断开开关J1,用万用表测量三极管的静态工作点,用示波器观察A、B通道的波形,分别填入表2.2中。

(4)接通开关J1,用示波器观察A、B通道的波形,填入表2.2中。

图2.24 共射极放大电路交直流并存特性的仿真测试电路

表2.2 共射极放大电路交直流并存特性的测试

5.任务完成结论

(1)断开开关J1,从A通道和B通道波形可以看出,电路中存在_______(交流量、直流量、交直流并存);接通开关J1,从A通道和B通道波形可以看出,电路中存在_______(交流量、直流量、交直流并存),电容C1的作用是____________(隔直流、隔交流)。

(2)根据所测三极管各极电位可知,三极管处于放大状态时,VB____VC____VE(大于、小于、等于),即三极管的发射结____,集电结____(正偏、反偏)。

仿真测试2

1.测试任务

(1)共射放大电路静态工作点的测试。

(2)共射放大电路静态工作点对放大电路影响的测试。

2.任务要求

按测试步骤完成所有测试内容,并撰写测试报告

3.测试器材

Multisim 2010仿真平台。

4.任务实施步骤

1)共射放大电路静态工作点的测试

(1)按图2.25画好仿真电路。

图2.25 共射放大电路静态工作点的仿真测试电路

(2)读取三极管2N2924和2N3393的β(即双击该三极管在“Edit Model”查找Bf)值。

(3)按图2.25所示连接电路,三极管型号为2N2924。调节电位器R1的阻值,用万用表测得UCE=6 V,测试相关参数填入表2.3中。

(4)将三极管型号更换为2N3393,用万用表测试相关数据填入表2.3中。

表2.3 静态工作点的测试

2)共射放大电路静态工作点对放大电路影响的测试

(1)按图2.26画好仿真电路。(www.xing528.com)

图2.26 静态工作点对放大电路影响的仿真测试电路

(2)调节电位器R1的阻值,使UCE=3 V,用示波器观察输出信号波形并记录表2.4中。

(3)调节电位器R1的阻值,使UCE=6 V,用示波器观察输出信号波形并记录表2.4中。

(4)调节调电位器R1的阻值,使UCE=9 V,用示波器观察输出信号波形并记录表2.4中。

表2.4 静态工作点对放大电路影响的测试

5.任务完成结论

(1)放大电路中三极管的β值的_______(改变、固定),将影响静态工作点的稳定,可能导致电路进入饱和或截止工作状态。

(2)在图2.25所示的共射放大电路中,基极偏置电阻的改变______(影响、不影响)整个放大电路的静态工作点,因此可通过调节基极偏置电阻阻值大小使放大电路达到合适的工作状态。

(3)在图2.26所示的共射放大电路中,UCE的值过小,可能导致输出波形______(顶部、底部)失真。

(4)放大电路的失真是由于三极管的______(线性非线性)特性引起的。

仿真测试3

1.测试任务

分压式偏置共射放大电路静态工作点稳定性的测试与分析。

2.任务要求

按测试步骤完成所有测试内容,并撰写测试报告。

3.测试器材

Multisim 2010仿真平台。

4.任务实施步骤

(1)按图2.27画好仿真电路。

图2.27 分压式偏置共射放大电路静态工作点稳定性的仿真测试电路

(2)读取三极管2N2924和2N3393的β(即Bf)值。

(3)按图2.27所示连接电路,三极管型号为2N2924,用万用表测试相关参数填入表2.5。

(4)将图2.27中的三极管型号更换为2N3393,用万用表测试相关数据填入表2.5中。

表2.5 静态工作点稳定性的测试

5.任务完成结论

(1)图2.27所示放大电路中三极管的β值变化,对电路的静态工作点的影响________(很小、很大)。因此,图2.27所示的分压式偏置电路能够稳定电路的静态工作点。

(2)三极管β值的变化主要受到_______(外电路结构、温度)变化的影响。

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