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如何判定产品故障:误用和独立故障的区分

时间:2023-06-25 理论教育 版权反馈
【摘要】:例如,某项产品在测试时,产品上一批CMOS器件受高电压冲击损坏。因此,晶体管短路是独立故障,而若干CMOS器件被高压电冲击引起的浪涌电流烧毁则是从属故障。在可靠性试验期间,误用故障可能是非故意的不符合规定的试验条件造成的,例如试验的严酷程度超过规定值范围、试验或维修人员的粗心操作等。尤其当故障数是在合格与不合格、接收与拒收的判定数的边界时,就容易引发争论。

如何判定产品故障:误用和独立故障的区分

产品或产品的一部分不能或将不能完成预定功能的事件或状态称为故障(Fault,Failure),对某些产品,如电子元器件、弹药等称为失效。不是由另一产品故障引起的故障叫作独立故障(Independent Failure);由于另一产品故障引起的故障叫作从属故障(Dependent Failure)。例如,某项产品在测试时,产品上一批CMOS器件受高电压冲击损坏。经分析,原因是二次电源一支晶体管短路,产生高压脉冲。因此,晶体管短路是独立故障,而若干CMOS器件被高压电冲击引起的浪涌电流烧毁则是从属故障。

对于产品的每一个需要监测的参数应规定它的容差限。如果参数值落在容差限内,则该参数性能是可靠的;如果参数值落在容差限外,则该参数性能是不可靠的。当需要监测的参数值永久地或间断地落在容差限外,就认为出现了一个故障。参数的容差限与预定功能密切相关。例如,在某些精密设备中,金属膜电阻器的阻值超出额定值的上、下5%就算失效。但在某些民用电器中,不超出额定值上、下10%都不算失效。

可靠性试验中,由于测量错误或外部测试设备故障而产生的故障不能认为是受试产品的故障,但所有其他故障都应认为是受试产品的故障。

如果同时有若干产品参数值超出了容差限,而且不能证明它们是由同一原因引起的,则每一个参数值超出容差限都应认为是受试产品的一个故障;但若是由同一原因引起的,则认为受试产品只出现了一个故障。在前面所列的CMOS器件受高压电冲击损坏的事例中,尽管有若干个CMOS器件损坏,但其原因是二次电源的一支晶体管故障,因此只算产品出现一个故障(但是,这也说明了电路设计是有缺点的,应该在二次电源中增加保护电路,使得即使晶体管短路也不致输出高压脉冲)。

如果出现两个或更多的独立故障原因,则每一个故障原因都应认为是受试产品的一个故障。(www.xing528.com)

对产品施加了超出其规定忍受能力范围的应力所造成的故障叫作误用故障(Misuse Failure)。在可靠性试验期间,误用故障可能是非故意的不符合规定的试验条件造成的,例如试验的严酷程度超过规定值范围、试验或维修人员的粗心操作等。

从属故障、误用故障或已经证实仅属某项将不采用的设计所引起的故障叫作非关联故障(Non-Relevant Failure),否则叫作关联故障(Relevant Failure)。某些故障已经出现,经分析,采取修改设计或其他纠正措施可以消除,但需要时间,在投入可靠性试验的产品上还来不及纠正,这类故障在可靠性试验中重复出现时,判为非关联故障。在可靠性试验方案中,还可对非关联故障作一些补充定义。这些定义应该是明确的、无二义的。在可靠性试验中出现的受试产品的每一个故障,都必须明确是关联故障还是非关联故障。在可靠性鉴定或验收试验中出现了较多故障,直接影响定型能否通过及批产品能否接收时,承制方就尽可能找理由把故障归入非关联故障。

非关联故障或事先已经规定不属于某组织机构责任范围内的关联故障叫作非责任故障(Non-Chargeable Failure),否则叫作责任故障。

可靠性测定试验中对产品可靠性作出估计(包括点估计及区间估计),可靠性验证试验中对产品作出合格、不合格的结论或对批产品作出接收、拒收的结论,所依据的是在试验期间或试验结束时观测到的受试产品的所有关联故障的信息。因此在可靠性试验中,判定出现的故障属于关联故障还是非关联故障,即所谓故障分类是一个重大工作项目,在订购方与承制方之间也常常是争论的焦点。尤其当故障数是在合格与不合格、接收与拒收的判定数的边界时,就容易引发争论。

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