测试性预计的流程如图3-43所示，其主要工作步骤如下：
（1）进行对象层次结构与组成分析。结合对象的功能，分析系统的结构和组成信息。
（2）取得故障模式和故障率数据及BIT预计结果。各功能块的故障模式和故障率数据是测试性预计的基础，可从FMECA和可靠性预计资料中得到这些数据。如果没有这些资料，应先进行可靠性预计和FMEA工作，然后根据3.4.4.2节中的BIT预计结果，得到BIT可以检测和隔离有关故障模式的故障率数据。如未进行单独的BIT预计工作，那么应按3.4.4.2节叙述的内容和方法进行必要的分析和预计，以取得必要的数据。
表3-39 BIT预计工作单格式
图3-43 测试性预计的流程
（3）进行故障分析及建立外部测试描述表。分析系统各种外部测试手段的测试范围、算法和流程等，并了解其工作原理和它们所测试的范围、启动和结束条件、故障显示记录情况等，并根据对各种测试方法的分析，建立系统级、LRU级、SRU级的测试描述表，用于在测试性预计时确定故障模式能够被哪些测试发现和隔离。
（4）获得FMECA资料和可靠性预计数据，以便列出所有故障模式，掌握故障影响情况、功能单元或部件的故障率，以及故障模式发生频数比。如果未进行FMECA和可靠性预计，应补作。至少应进行FMEA，并通过可靠性分析得到有关故障率数据。
（5）进行故障检测、隔离分析及填写测试性预计工作单。根据前面分析的结果，识别每个故障模式（或功能单元/部件）外部测试能否检测，哪一种故障模式可以检测，分析外部测试检测出的故障模式（功能单元/部件）能否被隔离，可隔离到几个可更换单元（LRU或SRU）上，并把数据填入测试性预计工作单。(www.xing528.com)
（6）计算FDR和FIR。为求得系统总的外部测试FDR和FIR，根据各级系统的工作单，可以先分别计算LRU、系统总的可检测故障率λD、隔离故障率λIL，BIT故障率λB和总故障率λs，然后用FDR和FIR的公式求出LRU、系统的预计指标。
按式（3-43）计算SRU的故障检测率：
式中 λD——被检测出的故障模式的总故障率；
λ——所有故障模式的总故障率。按式（3-44）计算SRU的故障隔离率：
式中 λI——可隔离到L个可更换单元的故障模式的故障率之和。
如各个LRU是单独预计的，则可用公式
计算整个系统的预计指标。
（7）进行预计结果综合分析并编写测试性预计报告。分析所得的预计结果，并根据要求编写测试性预计报告。把测试性预计值与要求值比较，看是否满足要求；列出测试性不能检测或不能隔离的故障模式和功能，并分析它们对安全、使用的影响；必要时提出改进测试性的建议。
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