三级维修系统的BIT预计 优化为 三级维修系统BIT预计分析

三级维修体制下的被测对象通常划分为3个层次：系统/子系统、LRU和SRU。对三级维修体制下3个层次的产品都应进行测试性预计，包括BIT故障检测与隔离能力的预计。

BIT预计是根据BIT设计资料，通过工程分析和计算来估计BIT故障隔离和诊断参数可能达到的量值，并与规定的指标要求进行比较。BIT预计工作在BIT分析和设计的基础上进行，主要目的是预计BIT的FDR和FIR，并与规定要求进行比较，评价和确认已进行的BIT设计工作；找出不足，改进工作，分析防止虚警的可能性。BIT的分析预计过程如图3-42所示。

图3-42　BIT的分析预计过程

BIT预计的主要工作步骤如下：

（1）进行被测对象层次结构与组成分析。结合被测对象的功能，分析系统的结构和组成信息。

（2）进行BIT分析及建立BIT描述表。分析系统的各种BIT工作模式及其他检测诊断手段的测试范围、算法和流程等，并了解系统工作前BIT、工作中BIT和工作后维修BIT的工作原理，以及它们所测试的范围、启动和结束条件、故障显示记录情况等，并根据对各种诊断方案和方法的分析，建立系统级、LRU级、SRU级的BIT测试描述表，用于在测试性预计时确定故障模式能够被哪些测试发现和隔离。

①SRU级BIT测试描述表示例如表3-36所示。

表3-36　SRU级BIT测试描述表示例

②LRU级BIT测试描述表示例如表3-37所示。

表3-37　LRU级BIT测试描述表示例

③系统级BIT测试描述表示例如表3-38所示。(www.xing528.com)

表3-38　系统级BIT测试描述表示例

（3）获得FMECA资料和可靠性预计数据，以便列出所有的故障模式，掌握故障影响情况、功能单元或部件的故障率，以及故障模式发生频数比。如果未进行FMECA和可靠性预计，应补作。至少应进行FMEA，并通过可靠性分析得到有关故障率数据。

（4）故障检测、隔离分析及填写BIT预计工作单。根据前面分析的结果，识别每个故障模式（或功能单元/部件）BIT能否检测，哪一种BIT模式可以检测，分析BIT检测出的故障模式（功能单元/部件）能否用BIT隔离，可隔离到几个可更换单元（LRU或SRU）上，并把数据填入BIT预计工作单。

BIT预计工作单格式如表3-39所示。

（5）计算FDR和FIR及BIT故障率。为求得LRU及其系统总的BIT的FDR和FIR，根据各SRU的BIT预计工作单，可以先分别计算LRU、系统总的可检测故障率λD，隔离故障率λIL，BIT故障率λB和总故障率λs，然后用FDR和FIR的公式求出LRU、系统的预计指标。

（6）进行预计结果综合分析并编写BIT预计报告。分析所得的预计结果，并根据要求编写BIT预计报告：

①把BIT预计值与要求值比较，看是否满足要求；

②列出BIT不能检测或不能隔离的故障模式和功能，并分析它们对安全、使用的影响；

③必要时提出改进BIT的建议。