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交叉型纳米片薄膜的形貌与结构表征

时间:2023-06-25 理论教育 版权反馈
【摘要】:初始态的Bi2Te3薄膜形貌展现为交叉的纳米片形态,纳米片尺寸较小。通过扫描电镜观察到纳米片薄膜的表面形貌发生了变化,为了进一步探测微细结构,使用AFM对薄膜的表面形貌进行了表征,观察区域为5μm×5μm,如图7-2所示。表7-1Bi2Te3薄膜的基本参数使用XRD对Bi2Te3纳米片薄膜在乙二醇热处理前后的结构进行了表征,如图7-3所示。各XRD谱图的峰均相差不大,表明乙二醇热处理对薄膜的结构影响较小。

交叉型纳米片薄膜的形貌与结构表征

首先对薄膜的表面进行了SEM表征,结果如图7-1所示。初始态的Bi2Te3薄膜形貌展现为交叉的纳米片形态,纳米片尺寸较小。经过溶液处理后,纳米片边缘变得模糊,并伴有点状物出现,如图7-1(b)所示。随着乙二醇热处理时间的增加,纳米片的形貌越来越模糊,这是因为Bi2Te3在乙二醇热处理时产生了分解。而初始纳米片的不规则和交叉形态导致Bi2Te3纳米片上不同位点溶解所需要的能量不同,故经过乙二醇热处理后纳米片的形貌没有明显的规律性。

图7-1 样品表面形貌图

(a)样品B;(b)样品B30;(c)样品B60;(d)样品B90

为了检测乙二醇热处理对Bi2Te3纳米片薄膜的成分比例是否有影响,使用扫描电镜对薄膜的成分进行了元素分布检测,样品B、B30、B60、B90中的Te与Bi原子百分比分别为63.8∶36.2、63.23∶36.77、63.56∶36.44和64.30∶35.70,Te与Bi的原子比约在1.75左右,薄膜中Te成分过量,各薄膜的成分波动介于能谱检测的误差内,结果表明乙二醇热处理对于Bi2Te3纳米片薄膜的成分影响较小,Bi2Te3纳米片薄膜表面形貌的变化主要来自Bi2Te3在乙二醇热处理中以一定比例(nBi∶nTe=2∶3)溶解所致,而非某一种成分的变化。

通过扫描电镜观察到纳米片薄膜的表面形貌发生了变化,为了进一步探测微细结构,使用AFM对薄膜的表面形貌进行了表征,观察区域为5μm×5μm,如图7-2所示。样品B、B30、B60和B90的表面均方根粗糙度分别为7.2 nm、7.0 nm、6.3 nm和9.6 nm。样品表面的粗糙度先减小后增加,表明在乙二醇热处理的过程中,纳米片凸起的地方优先溶解,使得薄膜逐渐趋于平坦。随着乙二醇热处理时间的进一步增加,Bi2Te3薄膜沿纵向的溶解加剧,使得薄膜表面粗糙度增大。薄膜表面粗糙度的变化意味着薄膜表面的电子、声子传输的方式也会发生变化,散射强度会增强,相应的变化对薄膜的热电性能也会产生显著的影响,这些将在后文进行分析。

图7-2 样品表面形貌AFM图

(a)样品B;(b)样品B30;(c)样品B60;(d)样品B90

为了便于后文比较分析,对样品基本参数进行了整理,见表7-1。(www.xing528.com)

表7-1 Bi2Te3薄膜的基本参数

使用XRD对Bi2Te3纳米片薄膜在乙二醇热处理前后的结构进行了表征,如图7-3(a)所示。薄膜中峰谱经查可确定为Bi2Te3相(JCPDS卡片号72-2036)和Te相(JCPDS卡片号85-0555)。其中Bi2Te3相的(006)峰最为尖锐,相对强度最大。由于Bi2Te3晶体的本征六方结构与层间范德瓦耳斯力结合的特征,当Bi2Te3自由生长时,趋向于(00l)方向,体现的形貌为六角纳米片。根据XRD谱图中Bi2Te3的(006)峰获得各样品对应的晶粒尺寸,样品B、B30、B60和B90的晶粒尺寸分别为26.3 nm、28.6 nm、28.9 nm和24.8 nm。晶粒尺寸变化不大,经过乙二醇热处理90 min的样品晶粒尺寸最小。此外,在每个样品的XRD谱图中均出现Te(101)峰,这与能谱检测结果中的Te成分过量相符。各XRD谱图的峰均相差不大,表明乙二醇热处理对薄膜的结构影响较小。

图7-3 样品XRD谱图和拉曼谱图

(a)XRD;(b)拉曼光谱

使用拉曼光谱对Bi2Te3纳米片薄膜经过乙二醇热处理前后的声子振动模式进行了检测,如图7-3(b)所示。所有的样品均有三个明显的峰,峰的位移约为62 cm-1、103 cm-1和120 cm-1,分别对应于Bi2Te3的A11g、E2g和Te的A1拉曼活性声子振动模式[170-171]。样品B、B30和B60第四个峰的拉曼位移约为135 cm-1,对应于Bi2Te3的A21g模式。B90样品中的第四个峰则右偏约为140 cm-1。该右偏的出现有两种可能:一种为Bi2Te3的A21g模式,由于在乙二醇中热处理的时间较长,反应时间较长,Bi2Te3在此声子振动方向受到一定应力,使得对应的拉曼位移右偏;另一种可能是Te的E′模式。相对于单晶Bi2Te3和Te的峰谱,测试获得的拉曼峰有轻微偏移,可能受到微小应力,属于正常范围。

选取样品B进行透射电镜分析,进一步观测纳米片的精细结构,Bi2Te3纳米片的结构如图7-4所示。制备TEM样品时,使用刀刮法。刀刮法对薄膜的破坏较小,由于无水乙醇的分散作用,使得多个纳米片连续平铺成大面积的区域,如图7-4(a)所示。Bi2Te3薄膜内的界面主要为纳米片之间的界面,如图7-4(b)所示,可以观察到多个不同取向的Bi2Te3纳米片之间的界面。除了Bi2Te3纳米片之间的同质结界面之外,还可以观察到Bi2Te3和Te之间的异质结纳米界面,如图7-4(c)和(d)所示。通过TEM观察表面,Bi2Te3纳米片薄膜中存在多种界面,不同界面对载流子和声子的散射贡献不一样,进而影响材料的热电性能。

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