Si是应用最广泛的半导体材料,同时也是热电材料的一种。它是现代集成电路的基础,在地球上储量巨大,开采和加工都极为方便。同时Si的性能稳定,无毒无污染。因此,Si作为热电材料具有广阔的应用前景。
Si是第ⅣA族元素,其晶胞类型为金刚石结构的面心立方体,晶格常数为0.543 nm,为共价键类型,摩尔质量为28.085 5 g/mol,理论密度为2.33 g/cm3,熔点为1 690 K。块体Si的功率因子较大,电学性能也较优。然而,Si具有较高的热导率,在室温状态下,单晶Si的热导率可达148 W·m-1·K-1[35],其较高的热导率导致很难建立起较大的温差,从而导致纯Si的热电性能较差。因此,想要提高Si材料的应用价值就必须降低其热导率。为了降低Si的热导率,科学家们提出了多种方案。比较常见的方法有:通过Si和其他材料复合化[36];将Si低维化[37-38],制备出二维薄膜或者形成一维纳米线。
Si可以与Ge复合形成SiGe合金,这种合金是一种较好的高温热电材料。由于Si与Ge的原子质量及原子半径相差较大,若两者复合则会有强烈的质量波动和应力应变散射,将对声子运动造成显著影响[39],从而导致热导率显著下降,热电性能明显提升。有报道称,当其作为P型热电材料的时候,在1 000 K的高温下,SiGe合金的ZT值可以达到1.08[40]。因为SiGe合金较好的热电性能,用SiGe合金制作的热电器件已经在航空航天领域得到了广泛的应用[41]。
Mg和Si复合形成的Mg2Si被认为是一种十分有前途的热电材料[42]。其最佳的工作范围在中温区(400~700 K)。Mg2Si基热电材料具有有效质量大、迁移率高、晶格热导率小等特点。在能源危机和环境危机日趋严重的情况下,Mg2Si基热电材料因其热电性能较优,且对环境友好,被认为是最具应用潜力的中温区热电材料之一。1955年首次制备了Mg2Si,随后科学界对Mg2Si基热电材料进行深入探索。2006年Fedorov等[43]利用熔炼法制备了一系列Mg2Si基固溶体热电材料,并研究了能带结构对其性能的影响规律。同年Nemoto[44]和Tani等[42]也分别利用烧结和热压的方法制备了Mg2Si基热电材料,并掺杂其他元素提高其性能。(www.xing528.com)
多孔硅由于其光致发光特性在20世纪90年代引起了广泛的关注。后续的研究发现,纳米化可以有效降低Si材料的热导率,从而提高其热电性能。Gesele等[45]研究发现,孔洞随机分布且孔隙率为64%~89%的多孔硅在室温下的热导率为0.1 W·m-1·K-1,比块体Si小3个数量级。虽然对热导率降低有极大的帮助,但是这种传统的多孔结构Si的电学性能也大幅度下降。Yamamoto等[46]发现,这种孔隙形状随机分布的多孔结构会导致其电导率非常低(σ=0.2 S·cm-1),因此,室温下的ZT只有0.03。Song等[47]发现,如果孔隙是有序的且大小为微米级的,电导率会有显著提高,同时热导率可降低到40 W·m-1·K-1。Lee等[48]通过动力学仿真预测,由于声子的散射,有序的纳米级多孔Si热导率可以低至0.6 W·m-1·K-1。
通过二维化的方式制备Si基薄膜也是提高Si基热电材料热电性能的重要手段。Huxtable等[49]测试了不同温度的Si/Si0.75Ge0.25和Si0.75Ge0.25/Si0.25Ge0.75两种超晶格纵向薄膜的热导率,实验结果表明Si/Si0.75Ge0.25超晶格的热导率与其周期厚度有关,其随周期厚度值的减小而减小;而Si0.75Ge0.25/Si0.25Ge0.75超晶格的热导率与周期厚度并没有明显的相关性。Lee[50]和Borca-Tasciuc等[51]对Si0.75Ge0.25超晶格的热导率进行测量,实验结果表明热导率会先随着周期厚度的增加而增大,而当周期厚度超过10 nm时则开始减小。Koga[52]利用分子束外延的方法制备了应用“载流子袋装工程”概念的Si/Ge超晶格并获得了极大的ZT值,在这个体系中,Si/Ge界面上的晶格应变提供了另一个自由度来控制超晶格的导带结构。
最近几十年,科学家们不断研究一维热电材料。2008年,美国加州理工学院的Boukai[37]制备了10 nm宽的Si纳米线,发现在纳米线中声子的平均自由程有效降低,从而导致热导率下降到块体值的0.5%。同年,美国加州大学伯克利分校Hochb Aum[53]利用化学法制备了直径为20~300 nm的Si纳米线,获得了极高的ZT值。在室温下,50 nm Si纳米线的ZT值达到了0.6,其原因是较高的表面粗糙度导致其热导率比块体Si的热导率低了两个数量级。
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