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激光视觉检测及共面性评价方法在栅状阵列器件中的应用

时间:2023-06-23 理论教育 版权反馈
【摘要】:薛晓洁 叶声华 孙长库摘要:应用激光线结构光传感器,将视觉检测成功应用于栅状阵列器件的共面性测量中,建立了测量系统数学模型,提出了以三点法为基础的共面性评价方法,并对BGA芯片进行了相应的试验研究,取得了满意的结果。关键词:栅状阵列器件 共面性 三点法中图分类号:TH7国家自然科学基金资助项目。20000606收到初稿,20001113收到修改稿。

激光视觉检测及共面性评价方法在栅状阵列器件中的应用

薛晓洁 叶声华 孙长库

天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 天津 300072)

摘要:应用激光线结构光传感器,将视觉检测成功应用于栅状阵列器件的共面性测量中,建立了测量系统数学模型,提出了以三点法为基础的共面性评价方法,并对BGA芯片进行了相应的试验研究,取得了满意的结果。

关键词:栅状阵列器件 共面性 三点法

中图分类号:TH7

国家自然科学基金资助项目(69906001)。20000606收到初稿,20001113收到修改稿。(www.xing528.com)

Laser Visual Inspection System and Evaluating Method For Grid Array Device Coplanarity

XUE Xiaojie YE Shenghua SUN Changku

(State Key Lab of Precision Measuring Technology&Instruments,Tianjin University Tianjin 300072)

Abstract:Adopting line-structured laser sensor,successfully applies the visual inspection to the grid array device coplanarity measurement.With the mathematics model put forward,the evalua-ting method based on the three-point seating plane is presented,and corresponding experimental studies on the BGA chip coplanarity are carried out,which achieve sat isfactory results.

Keywords:grid array device coplanarity three-point seating plane method

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