取缺陷的深度、长度、磁化强度等条件相同,处在两个磁极中心,缺陷的宽度分别为0.2°、0.5°、1°、1.5°和2°,采用有限元法仿真研究缺陷宽度和漏磁信号之间的关系。不同宽度缺陷对应的缺陷漏磁信号特征量见表4-3。
表4-3 不同宽度缺陷对应的漏磁信号特征量
由表4-3中信息可知,漏磁信号径向分量Br峰峰间距Srp-p和漏磁信号周向分量Bθ微分信号峰峰间距DSθp-p随缺陷宽度的变化而规律变化,这两个特征量可用于评价缺陷深度。
表4-3中所列1~5号不同宽度缺陷处的漏磁信号径向分量Br如图4-26所示。
由图4-26可知,当缺陷宽度小于1°(缺陷编号3)时,漏磁信号径向分量Br峰峰值随着缺陷宽度的增加而增加;当缺陷宽度大于1°时,Br峰峰值随着缺陷宽度的增加而减小。二者不存在规律性的关系,故径向分量峰峰值不能作为评价缺陷宽度的特征量。径向分量Br峰峰间距随缺陷宽度增加而明显增加,可用于评价缺陷宽度。
表4-3中所列1~5号不同宽度缺陷处的漏磁信号周向分量Bθ如图4-27所示。
由图4-27可知,宽度为0.5°的缺陷(缺陷编号2)的周向分量Bθ峰谷值大于宽度为0.2°的缺陷(缺陷编号1)的周向分量Bθ峰谷值;而当缺陷宽度大于0.5°之后,周向分量Bθ峰谷值随着缺陷宽度的增加明显减小。二者不存在规律性的关系,周向分量峰谷值不能作为评价缺陷宽度的特征量。
缺陷宽度与漏磁信号径向分量Br峰峰间距Srp-p的关系如图4-28所示。
从图4-28中可以看出,漏磁信号径向分量Br峰峰间距Srp-p与缺陷宽度成较好的正比例线性关系,随着缺陷宽度的增加而增加。
缺陷宽度与漏磁信号周向分量Bθ微分信号峰峰间距DSθp-p的关系如图4-29所示。(www.xing528.com)
从图4-29中可以看出,漏磁信号周向分量Bθ微分信号峰峰间距DSθp-p与缺陷宽度成较好的正比例线性关系,随着缺陷宽度的增加而增加。
漏磁信号径向分量Br峰峰间距Srp-p和周向分量Bθ微分信号峰峰间距DSθp-p均可很好地描述缺陷宽度,故可作为评价缺陷宽度的特征量。
图4-26 不同宽度缺陷处的漏磁信号径向分量Br
图4-27 不同宽度缺陷处的漏磁信号周向分量Bθ
图4-28 缺陷宽度与Br峰峰间距Srp-p的关系
图4-29 缺陷宽度与Bθ微分信号峰峰间距DSθp-p的关系
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