取缺陷的宽度、长度、磁化强度等条件相同，处在两个磁极中心缺陷的深度分别为10%、30%、50%、60%和80%，采用有限元法仿真研究缺陷深度和漏磁信号之间的关系。
不同深度的缺陷对应的漏磁信号特征量见表4-2。由表中信息可知，漏磁信号径向分量Br峰峰间距Srp-p和周向分量Bθ微分信号峰峰间距DSθp-p基本不随缺陷深度的变化而变化，因此这两个信号特征量不能用于评价缺陷深度。漏磁信号径向分量Br峰峰值Brp-p和周向分量Bθ峰谷值Bθp-p的变化明显，深度为10%的缺陷两个特征量仅是深度为80%缺陷的1%左右。
表4-2 不同深度缺陷对应的漏磁信号特征量
表4-2中所列1～5号的不同深度缺陷处的漏磁信号径向分量Br如图4-22所示。
图4-22 不同深度缺陷处的漏磁信号径向分量Br
由图4-22清晰可知，漏磁信号曲线的形状基本相同，漏磁信号径向分量Br峰峰值随着缺陷深度的增加而逐渐增加。
表4-2中所列1～5号不同深度缺陷处的漏磁信号周向分量Bθ如图4-23所示。
由图4-23清晰可知，漏磁信号周向分量Bθ峰谷值随着缺陷深度的增加而明显增加，表示随着缺陷深度的增加，泄漏出的漏磁场增加。
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图4-23 不同深度缺陷处的漏磁信号周向分量Bθ
缺陷深度与漏磁信号径向分量Br峰峰值Brp-p的关系如图4-24所示。
图4-24 缺陷深度与Br峰峰值Brp-p的关系
从图4-24中可以看出，漏磁信号径向分量Br峰峰值Brp-p与缺陷深度成较好的正比例线性关系，随着缺陷深度的增加而增加。
缺陷深度与漏磁信号周向分量Bθ峰谷值Bθp-p的关系如图4-25所示。
从图4-25中可以看出，漏磁信号周向分量Bθ峰谷值Bθp-p与缺陷深度成较好的正比例线性关系，随着缺陷深度的增加而增加。
漏磁信号径向分量Br峰峰值Brp-p和漏磁信号周向分量Bθ峰谷值Bθp-p均可很好地描述缺陷深度，故可作为评价缺陷深度的特征量。
图4-25 缺陷深度与Bθ峰谷值Bθp-p的关系
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