不同长度缺陷的对比分析

缺陷长度不同，产生的漏磁信号不同。部分相同深度、不同长度的人工孔缺陷和槽缺陷样本见表3-8。

表3-8 不同长度的人工缺陷样本

利用一个传感器探头检测得到的表3-8中不同长度孔缺陷处的漏磁信号如图3-40所示。

由图3-40可知，深度相同，直径（长度）不同的孔缺陷处产生的漏磁通不同，漏磁信号径向分量幅值（峰峰值）随着孔缺陷直径的增大先变大（直径小于ϕ6mm），然后再减小，故漏磁信号径向分量峰峰值不能用于评价缺陷长度；漏磁信号径向分量峰峰间距随着孔缺陷直径的增大而变大；漏磁信号轴向分量幅值（峰谷值）随着孔缺陷直径的增大而变大。

图3-40 不同长度孔缺陷处的漏磁信号

a）ϕ2mm孔缺陷处的漏磁信号 b）ϕ3.2mm孔缺陷处的漏磁信号 c）ϕ6mm孔缺陷处的漏磁信号 d）ϕ8mm孔缺陷处的漏磁信号

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图3-41 不同长度槽缺陷处的漏磁信号

a）长2.5mm槽缺陷 b）长6mm槽缺陷

利用一个传感器探头检测得到的表3-8中不同长度槽缺陷处的漏磁信号如图3-41所示。

由图3-41可知，深度相同的槽缺陷，漏磁信号径向分量幅值（峰峰值）随着槽缺陷长度的增大而变小，漏磁信号径向分量峰峰间距随着槽缺陷长度的增大而变大；漏磁信号轴向分量幅值（峰谷值）随着槽缺陷长度的增大无明显变化。

综合图3-40和图3-41可知，如果缺陷深度一定，那么无论是孔缺陷还是槽缺陷，漏磁信号径向分量峰峰间距均随着缺陷长度的增大而变大，峰峰间距与缺陷长度存在近似线性关系，故漏磁信号径向峰峰间距可以作为评价缺陷长度的信号特征。

漏磁信号径向峰峰间距S_xp-p与缺陷长度L的关系可表示为

L=a₄S_xp-p+b₄ （3-5）

式中，a₄为比例系数；b₄为修正系数。