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不同深度缺陷的对比分析

时间:2023-06-23 理论教育 版权反馈
【摘要】:表3-7 不同深度的人工缺陷样本利用一个传感器探头检测得到的表3-7中不同深度孔缺陷处的漏磁信号如图3-38所示。由图3-39可知,长度相同的槽缺陷,其深度越深,缺陷处产生的漏磁通越多,漏磁信号径向分量幅值(峰峰值)越大,漏磁信号轴向分量幅值(峰谷值)也越大。轴向分量峰谷值Byp-p与缺陷深度D的关系可表示为D=a3Byp-p+b3 (3-4)式中,a3为比例系数;b3为修正系数。

不同深度缺陷的对比分析

缺陷深度不同,产生的漏磁信号不同。部分相同长度、不同深度的人工孔缺陷和槽缺陷样本见表3-7。

3-7 不同深度的人工缺陷样本

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利用一个传感器探头检测得到的表3-7中不同深度孔缺陷处的漏磁信号如图3-38所示。

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图3-38 不同深度孔缺陷处的漏磁信号

a)10%深度孔缺陷处的漏磁信号 b)20%深度孔缺陷处的漏磁信号 c)30%深度孔缺陷处的漏磁信号 d)40%深度孔缺陷处的漏磁信号

由图3-38可知,直径相同的孔缺陷,深度越深,缺陷处产生的漏磁通越多,漏磁信号径向分量幅值(峰峰值)越大,漏磁信号轴向分量幅值(峰谷值)也越大。

利用一个传感器探头检测得到的表3-7中不同深度槽缺陷处的漏磁信号如图3-39所示。

由图3-39可知,长度相同的槽缺陷,其深度越深,缺陷处产生的漏磁通越多,漏磁信号径向分量幅值(峰峰值)越大,漏磁信号轴向分量幅值(峰谷值)也越大。

978-7-111-55712-8-Chapter03-47.jpg(www.xing528.com)

图3-39 不同深度槽缺陷处的漏磁信号

a)30%深度槽缺陷处的漏磁信号 b)40%深度槽缺陷处的漏磁信号

综合图3-38和图3-39可知,如果缺陷长度一定,那么缺陷漏磁信号径向分量幅值随着缺陷深度的加深而变大,二者存在近似线性关系。径向分量峰峰值Bxp-p与缺陷深度D的关系可表示为

D=a2Bxp-p+b2 (3-3)

式中 a2为比例系数;b2为修正系数。

如果缺陷长度一定,缺陷漏磁信号轴向分量峰谷值随着缺陷深度的加深而变大,二者存在近似线性关系。轴向分量峰谷值Byp-p与缺陷深度D的关系可表示为

D=a3Byp-p+b3 (3-4)

式中,a3为比例系数;b3为修正系数。

综上所述,漏磁信号径向分量峰峰值和轴向分量峰谷值可以作为评价缺陷深度的信号特征。

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