【摘要】:相同缺陷,传感器提离值为零,在2~20mm范围内,从小到大依次取6个不同的磁化器提离值。表3-4 不同的磁化器提离值对应的缺陷漏磁信号特征量由图3-23、图3-24和表3-4中信息可知,Bx峰峰值Bxp-p和By峰谷值Byp-p随着磁化器提离值的增大缓慢下降。随着磁化器提离值的增大,Bx峰峰间距Sxp-p基本稳定,这是由于漏磁信号Bx基线变化微弱造成的。
相同缺陷,传感器提离值为零,在2~20mm范围内,从小到大依次取6个不同的磁化器提离值。不同磁化器提离值的缺陷漏磁信号径向分量Bx如图3-21所示,漏磁信号轴向分量By如图3-22所示。
图3-21 不同磁化器提离值的漏磁信号径向分量Bx
图3-22 不同磁化器提离值的漏磁信号轴向分量By
由图3-21和图3-22可以看出,漏磁信号径向分量的基线随着磁化器提离值的增加略有降低,Bx峰峰值随着磁化器提离值的增加而缓慢降低;漏磁信号轴向分量的基线基本不随磁化器提离值变化,By峰谷值随着磁化器提离值的增加比较明显降低。
磁化器提离值与Bx峰峰值Bxp-p的关系如图3-23所示,磁化器提离值与By峰谷值Byp-p的关系如图3-24所示。
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图3-23 磁化器提离值与Bx峰峰值Bxp-p的关系
图3-24 磁化器提离值与By峰谷值Byp-p的关系
表3-4 列出了不同的磁化器提离值对应的缺陷漏磁信号特征量。
表3-4 不同的磁化器提离值对应的缺陷漏磁信号特征量
由图3-23、图3-24和表3-4中信息可知,Bx峰峰值Bxp-p和By峰谷值Byp-p随着磁化器提离值的增大缓慢下降。随着磁化器提离值的增大,Bx峰峰间距Sxp-p基本稳定,这是由于漏磁信号Bx基线变化微弱造成的。
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