【摘要】:表3-2列出了不同深度的缺陷对应的漏磁信号特征量。因此,Bx峰峰值Bxp-p和By峰谷值Byp-p均可很好地描述缺陷深度,适合作为评价缺陷深度的特征量。图3-15 缺陷深度与By峰谷值Byp-p的关系从图3-14和图3-15可以看出,Bx峰峰值Bxp-p和By峰谷值Byp-p均与缺陷深度成很好的正比例线性关系,随着缺陷深度增加而增加。
取缺陷的宽度、长度、磁化强度等条件相同,缺陷的深度分别为壁厚的12.5%、25%、37.5%、50%、62.5%、75%、87.5%和100%(相应的编号为1、2、3、4、5、6、7、8),其中100%壁厚深度的缺陷为通孔,采用有限元法仿真研究缺陷深度和漏磁信号之间的关系。
不同深度缺陷的漏磁信号径向分量Bx如图3-12所示,漏磁信号轴向分量By如图3-13所示。由这两个图清晰可知,漏磁信号曲线的形状基本相同,Bx峰峰值随着缺陷深度的增加而逐渐增加,By峰谷值随着缺陷深度的增加而明显增加,随着缺陷深度的增加泄漏出的漏磁场就越多。
表3-2列出了不同深度的缺陷对应的漏磁信号特征量。由表中信息可知,Bx峰峰间距Sxp-p和By微分信号峰峰间距DSyp-p不随缺陷深度变化,这两个信号特征量不能用于评价缺陷深度。
图3-12 不同深度缺陷的漏磁信号径向分量Bx
图3-13 不同深度缺陷的漏磁信号轴向分量By
表3-2 不同深度的缺陷对应的漏磁信号特征量
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①此处用壁厚的百分数表示缺陷深度。
缺陷深度与Bx峰峰值Bxp-p的关系如图3-14所示,缺陷深度与By峰谷值Byp-p的关系如图3-15所示。
图3-14 缺陷深度与Bx峰峰值Bxp-p的关系
图3-15 缺陷深度与By峰谷值Byp-p的关系
从图3-14和图3-15可以看出,Bx峰峰值Bxp-p和By峰谷值Byp-p均与缺陷深度成很好的正比例线性关系,随着缺陷深度增加而增加。因此,Bx峰峰值Bxp-p和By峰谷值Byp-p均可很好地描述缺陷深度,适合作为评价缺陷深度的特征量。
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