取缺陷的宽度、深度、磁化强度等条件相同,缺陷的长度分别为5mm、10mm、15mm、20mm、25mm和30mm(相应的编号分别为1、2、3、4、5、6),采用有限元法仿真研究缺陷轴向长度和漏磁信号之间的关系。
不同长度缺陷的漏磁信号径向分量Bx如图3-5所示。从图3-5可以看出,Bx峰峰值随着缺陷长度的增加而逐渐减小,Bx峰峰间距随着缺陷长度的增加而明显增加。
图3-5 不同长度缺陷的漏磁信号径向分量Bx
不同长度缺陷的漏磁信号轴向分量By如图3-6所示。由图3-6可知,与缺陷长度大的曲线相比,缺陷长度小的By峰谷值较大,但By与横坐标轴围成的面积较小,说明泄漏出的磁通总量较少。
图3-6 不同长度缺陷的漏磁信号轴向分量By
不同长度缺陷的漏磁信号轴向分量微分信号对比如图3-7所示。从图3-7中可以看出,微分信号的峰峰间距随着缺陷长度的增加而增加。
图3-7 不同长度缺陷的漏磁信号轴向分量微分信号
表3-1列出了不同长度的缺陷对应的漏磁信号特征量。不同漏磁信号特征量与缺陷长度关系的曲线分别如图3-8~图3-11所示。
表3-1 不同长度的缺陷对应的漏磁信号特征量
(www.xing528.com)
图3-8 缺陷长度与Bx峰峰值Bxp-p的关系
图3-9 缺陷长度与Bx峰峰间距Sxp-p的关系
从图3-8可以看出,Bx峰峰值Bxp-p与缺陷长度近似成反比例线性关系,随着缺陷长度的增加而逐渐减小。
从图3-9可以看出,Bx峰峰间距Sxp-p与缺陷长度成很好的正比例线性关系,随着缺陷长度的增加而增加。
从图3-10可以看出,By峰谷值Byp-p与缺陷长度成非线性关系,并且随着缺陷长度的增加而逐渐减小。
从图3-11可以看出,By微分信号峰峰间距DSyp-p与缺陷长度成很好的正比例线性关系,随着缺陷长度的增加而增加。
图3-10 缺陷长度与By峰谷值Byp-p的关系
图3-11 缺陷长度与By微分信号峰峰间距DSyp-p的关系
综上所述,Bx峰峰间距Sxp-p和By微分信号峰峰间距DSyp-p可很好地描述缺陷长度,适合作为评价缺陷长度的特征量。
免责声明:以上内容源自网络,版权归原作者所有,如有侵犯您的原创版权请告知,我们将尽快删除相关内容。