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理想界面下的多尺度均匀算法

时间:2023-06-23 理论教育 版权反馈
【摘要】:对于小尺度或者大尺度问题,需要引入一个均匀化方法来估计其有效弹性模量,并将其转化为割线模量。对于含有球形孔洞的小尺度问题,许多均匀化方法是相同的,均导出了Mori-Tanaka结果或者Hashin-Shtrikman上下界。对于含有随机取向且高度扁平夹杂的大尺度问题,需要更加小心的选择均匀化方法。这为后面所采用的场波动方法带来方便。实际上,PCW 方法对于CNT纳米复合材料具有更严厉的限制。这使得可用的方法仅剩下MT方法或者有效介质法。

理想界面下的多尺度均匀算法

对于小尺度或者大尺度问题,需要引入一个均匀化方法来估计其有效弹性模量,并将其转化为割线模量。对于含有球形孔洞的小尺度问题,许多均匀化方法是相同的,均导出了Mori-Tanaka(MT)结果或者Hashin-Shtrikman(HS)上下界。对于含有随机取向且高度扁平夹杂(模仿石墨烯)的大尺度问题,需要更加小心的选择均匀化方法。一般意义上,对于三维随机取向椭球夹杂的复合材料,可以考虑以下三个常用的模型。这包括Mori-Tanaka(MT)方法[160],Ponte Castaneda and Willis(PCW)方法[239]和Bruggeman有效介质法(EMA)[240],所有这些方法均为近似方法并且有它固有的优缺点。MT方法和PCW 方法的优点是对于本章所考虑的大尺度和小尺度问题,夹杂均是直接嵌入在基质中并且所得到的有效模量是显式的。这为后面所采用的场波动方法带来方便。但对于石墨烯纳米复合材料,PCW 的有效性范围限制在c1<α。其中,α是夹杂的长细比。例如,如果石墨烯填充物的长细比α为0.001,石墨烯含量必须满足c1<0.001。否则,计算得到的有效模量会超出HS上界(参考Hu和Weng[241]中的图1)。由于实验中石墨烯含量一般为1%至2.5%,这是一个很严厉的限制。实际上,PCW 方法对于CNT纳米复合材料具有更严厉的限制。在这种情况下,CNT的体积分数需要满足c1<1/α2。对于长细比为1000的CNT复合材料,它的应用范围是c1<10-6,是一个非常小的区间。这使得可用的方法仅剩下MT方法或者有效介质法。这两种方法预测的结果都在HS边界上或边界内,它们从不违反边界。然而,有效介质法是隐式方法。由后续方程(6.21)和(6.22)可得:如果或者κs和μs是关于κ0,或者的隐式函数,其偏导数很难求得,故而很难使用后续用到的场波动方法。此外,方程(6.21)和(6.22)中有效模量κs和μs是关于κ0和α很复杂的函数。基于以上这些原因,后续将采用MT方法来研究本章中大尺度和小尺度问题。

对于小尺度或者大尺度问题,需要引入一个均匀化方法来估计其有效弹性模量,并将其转化为割线模量。对于含有球形孔洞的小尺度问题,许多均匀化方法是相同的,均导出了Mori-Tanaka(MT)结果或者Hashin-Shtrikman(HS)上下界。对于含有随机取向且高度扁平夹杂(模仿石墨烯)的大尺度问题,需要更加小心的选择均匀化方法。一般意义上,对于三维随机取向椭球夹杂的复合材料,可以考虑以下三个常用的模型。这包括Mori-Tanaka(MT)方法[160],Ponte Castaneda and Willis(PCW)方法[239]和Bruggeman有效介质法(EMA)[240],所有这些方法均为近似方法并且有它固有的优缺点。MT方法和PCW 方法的优点是对于本章所考虑的大尺度和小尺度问题,夹杂均是直接嵌入在基质中并且所得到的有效模量是显式的。这为后面所采用的场波动方法带来方便。但对于石墨烯纳米复合材料,PCW 的有效性范围限制在c1<α。其中,α是夹杂的长细比。例如,如果石墨烯填充物的长细比α为0.001,石墨烯含量必须满足c1<0.001。否则,计算得到的有效模量会超出HS上界(参考Hu和Weng[241]中的图1)。由于实验中石墨烯含量一般为1%至2.5%,这是一个很严厉的限制。实际上,PCW 方法对于CNT纳米复合材料具有更严厉的限制。在这种情况下,CNT的体积分数需要满足c1<1/α2。对于长细比为1000的CNT复合材料,它的应用范围是c1<10-6,是一个非常小的区间。这使得可用的方法仅剩下MT方法或者有效介质法。这两种方法预测的结果都在HS边界上或边界内,它们从不违反边界。然而,有效介质法是隐式方法。由后续方程(6.21)和(6.22)可得:如果或者κs和μs是关于κ0,或者的隐式函数,其偏导数很难求得,故而很难使用后续用到的场波动方法。此外,方程(6.21)和(6.22)中有效模量κs和μs是关于κ0和α很复杂的函数。基于以上这些原因,后续将采用MT方法来研究本章中大尺度和小尺度问题。(www.xing528.com)

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