如何确定工程裕度: 有效的方法与技巧

EN61000-4-3测试方法不能保证一个给定的EUT和它的电缆将会暴露在完全相同的场的分布和电平中（比如说在±3dB以内）。除非EUT的设置和它的电缆完全照原样复制，即便是在同一个吸波室内，使用相同的设备进行重复测试也无法做到上述的情况。除非所使用的吸波室、发射天线以及驱动它的RF功率放大器物理上是完全一致的（也就是说，就是原来的那一套设备）。若在不同的吸波室（即便它的物理参数与原用的完全相同）内完全复制EUT和电缆的布局，也仍然不能确保能够复制测试场的分布。与EN61000-4-3相对照（比如吉赫横电磁波室-GTEM室），可供选用的替代测试方法将无法像使用一个吸波室一样在EUT周围形成相同的场分布，并且场误差可以很容易地就超过±20dB。

因为模拟电路和数字电路对RF场强敏感度的非线性以及在产品批量生产中，由于元器件和装配存在允差（就EMC来讲，它们经常是无法控制的）而使得产品的抗扰度性能会有所差异。所以我们推荐为辐射抗扰度测试留有一个工程裕度。即便按照EN61000-4-3进行的一个完整的符合性测试，也应该在产品满足所要求的功能技术规范前提下，留有至少为6dB的宽余量（比如用6V/m来代替3V/m）。

在测试方法具有很大差异的场合，即便新方法具有良好的场均匀度（比如，在低频下的微波带状线，GTEM室等），这里仍推荐应该留有比要求大许多的工程宽余量。(www.xing528.com)

倘若为了节省开支而仅在最终产品上采用其他替代的辐射抗扰度测试方法，很有可能会导致留有过高的工程裕度（有时称为过工程或量工程）。在使用替代测试方法的同时，而又要保证必需的工程裕度而造成产品通过测试的附加成本应在加权情况下与正规的使用仅具有6dB工程宽余量的EN61000-4-3测试进行比较，以对正确选用何种测试做出判断。

即便是最终产品仍会使用EN61000-4-3所规定的方法进行符合性测试，但由于近场测试和其他的可供替代的方法更适用于产品设计和研制期间对辐射抗扰度进行测试（比如在一个工程实验台上对一个PCB原型板的装配进行的测试就是一个典型的例子），所以它们仍应在此期间完成。这不仅将帮助保证最终测试的正式性，而且会大大缩短产品投放市场的时间。