局部抗扰度测试的优化方法

在本篇第1章中所描述的近场磁场探头和电场探头可以在抗扰度测试中被用来作为局部的骚扰源。然而在第1章中所介绍的自制探头必须足够坚实可靠来应付这类不合理的使用。假如使用商品化的探头，在正式使用它们以前，应该确定它们是否能够承受设计中的使用场合。

局部化抗扰度测试可以用于下列一些方面：

1）在设计期间测试所设计的电路或器件。

2）在试制期间测试原型机。

3）在认证测试期间帮助修改符合性问题。

4）在生产期间帮助检查进货器件的质量以及/或连续生产中的产品。

在本篇第1章中的图4-1-1、图4-1-2和图4-1-4中所示的近场探头和电流探头可以直接与快速瞬态猝发（FTB）发生器的输出相连接来产生相对应于FTB波形的局部磁场和电场（或在图4-1-4所示的情况中：同时产生局部的磁场和电场）。使用这些探头的步骤与用它们来检测局部发射源的步骤相类似。在测试中，探头要仔细地对整个产品所有怀疑的区域进行扫描。在这期间探头还应非常接近所有要探测的器件或导体，直到找出最为敏感的区域。在本篇第1章图4-1-5中所示的自制电流探头以及哪些专业的换能器（如本篇第2章图4-2-3和图4-2-4所示的吸收钳和电压探头）也可以用来将FTB骚扰注入指定的电缆中（在使用它们前，一定要确定它们的额定是否适合于这类应用）。(www.xing528.com)

如本篇第1章图4-1-2中所示的针状探头也可以用来直接将FTB信号注入导体和元件引线，但此时需要使用一个高压电容（比如说100pF）。为了用于注入某些内部信号和防止损坏PCB元器件，此时还可能需要安装一个宽带功率衰减器。

在开始进行测试时，通常都是将发生器的输出设置在最低的测试电压。然后，逐步增加电压电平直到发现十分明显的响应为止。并想法解决所发现的问题。接着继续增加测试电平直到发现第二批敏感区域为止。在这里值得提醒的是，就像用于近场发射测试一样，在测试中所发现的，并引起明显响应的区域并不一定都与真正的产品整体测试相关联。

当然也可以使用自制的磁场探头（不论是屏蔽的或未屏蔽的）和电流探头来完成局部ESD测试。然而，电场探头或针状探头仅能充电至ESD电压。并且只有在它们完全放电以后才能再次使用。否则必须经过改装，并将一个高压泄放电阻（大约为1kΩ）结合其内。这里还有一个问题是，当将它们与一个普通的BNC（或N-型）一起使用时，它们不能与ESD发生器相互连接，否则在4kV以上时，很可能出现内部飞弧问题。所以最好是制作和使用一个新的，带有直接插入ESD枪输出的插头（可以被改制成一个备用的放电头）。

假如使用改装的煤气点燃器或汽车火花塞ESD发生器的话，那么用它们构成一个磁场环或电场探头并由此构成一个手提式探头系统应该说是相当简单并直观。

由于传导电压和电流或由于辐射和感应场的存在，既可能引起FTB问题也可能造成ESD问题。不同类型的局部探头和测试方法可以用来模拟测试不同方面的问题。除非造成问题的原因是已知的（或至少具有某些怀疑），则可能需要使用所有相关类型的探头来完成测试。

这里并不推荐进行局部浪涌测试。换句话讲，通常并不一定必须通过发现灼伤点或可见的损坏元件，或通过查看产品内部的一个火花发生的位置来确定测试失败的位置。大部分浪涌测试的失败是由传导低频过电压所引起的，而不是由高频感应或辐射耦合所引起的（对于FTB和ESD问题来讲，高频感应或辐射耦合则是很普通的原因）。因此，通常可以很容易的从一个电路图和产品的内部结构和它的PCB的布局来确定它们潜在的脆弱位置和区域。为了防止一个6kV的浪涌在一个干净的PCB表面上产生拉弧，爬电和净空距离要求超过10mm。