【摘要】：上面所描述的所有近场探头：故障检测器、电流探头、吸收钳或电压探头都是非侵入式的。在频率为30MHz以下时，这通常意味着要使用如LISN或ISN这类侵入式测试方法。假如导体的阻抗通过使用RF输出终端终止于50Ω的LISN或ISN加以稳定的话，使用电流探头、吸收钳和电压探头的测量可以获得可重复的结果。在使LISN或ISN的条件下，有些标准也接受电流探头的测量结果。
上面所描述的所有近场探头：故障检测器、电流探头、吸收钳或电压探头都是非侵入式的。所以在测量过程中被测导体不会受到任何阻断，所以说它们的使用也都很简便。可惜的是，被测电路的CM或DM阻抗在测试期间无法加以控制，因此对于一个给定的EUT，所测量到的发射在相当程度上会取决于它的安装状况。
尽管是这样，有些测试标准仍允许在某些特定的条件下进行这样的测试。这也许是因为人们总认为能够做些测量总要比不进行任何测量来得好一些的缘故吧！然而在EMC指令下的协调标准中，大多数传导发射测试都要求对阻抗加以控制，以给出较好的测量可重复性。在频率为30MHz以下时，这通常意味着要使用如LISN或ISN这类侵入式测试方法。我们将在2.1.7节和2.1.10 节中做进一步讨论。
假如导体的阻抗通过使用RF输出终端终止于50Ω的LISN或ISN加以稳定的话，使用电流探头、吸收钳和电压探头的测量可以获得可重复的结果。在使LISN或ISN的条件下，有些标准也接受电流探头的测量结果。(www.xing528.com)
但即便使用了导体阻抗稳定技术，来自使用近场探头和故障检测器的测量结果仍会在某种程度上不可重复。这通常是由于测量结果对探头的位置和定向非常敏感或无法把探头按相同位置重复设置的缘故。
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