如何避免解调问题

大多数模拟器件的抗扰问题是由RF解调所引起的。

不论是采用何种反馈方案，运算放大器的所有插针对RF骚扰都非常敏感（见图1-1-3）。

图1-1-3 解调发生在所有的半导体器件中， 并且所有的插针都是敏感的

虽然就模拟电路而言，解调是一个更为普遍的问题。但对数字电路而言（当软件出现错误时），解调却能造成灾难性的影响。事实上，所有的半导体器件都会对RF解调。

即便是速度较慢的运算放大器也会对高到诸如手机使用频率，甚至更高的频率进行解调。图1-1-4所示为对真实产品进行测试的结果。为了有助于防止解调的发生，在骚扰发生期间，模拟电路需要保持其线性和稳定性。这对反馈电路来讲是一个特殊问题。所以在测试过程中，首先要把所有的输入和输出负载以及滤波器全都去掉，然后将上升沿极快（小于1ns上升时间）的方波注入到输入端（并可能需要通过小电容注入到输出和电源），来单独测试反馈电路的稳定性和线性性能。测试信号的幅值被设置为最大输出峰值的30%左右，以防钳位。测试信号的基频应设置在被测电路设计通带的中心频率附近。

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图1-1-4 运算放大器能对射频进行很好的解调

这里需要使用一个带宽为100MHz（至少）的示波器和探头来对电路输出的转换速率、过冲和振铃现象进行观察。即便是对音频或仪表电路也需如此。对于那些速度较高的模拟电路，则要使用速度与之相应或更快的示波器，并要特别小心地选用适当的高速探测技术。

通过对反馈电路进行调节，可以获得最大的转换速率和低过冲（当过冲高度超过信号标准高度的50%时，则表明可能出现不稳定）。任何长周期的振铃（比如说长于两个周期）或振荡的猝发也都是出现不稳定性的表现。

不同批次的IC的稳定性能可以有着巨大差异。最为简捷的模拟试验是将被测器件置于一个温度变化很宽的、从冷到热的环境中（比如说-30～+180℃）进行测试。以此来确保获得在整个温度范围内，被测电路可能达到的最快速度和稳定范围。

测试也可以使用扫频的方法来进行。但要注意的是，不要造成频谱分析仪输入端的过驱动。