IP板扫描读出参数对缺陷检验的影响实验探究

实验内容

采用不同类别IP板分别透照，获取缺陷、双丝像质计、线型像质计的检测图像。采用不同激光扫描点尺寸读出检测图像，比较结果。

实验器材

X射线机（焦点尺寸已知或测定）；IP板（不同类别），IP板图像读出器（可设置不同扫描点尺寸，如50μm、100μm等）；双丝像质计2只。

缺陷试件：同实验3。

实验过程

（1）透照布置

1）双丝像质计和线型像质计放置在缺陷试件（包括适当厚度垫板）上，双丝像质计一只平行于IP板边，另一只垂直于IP板边。

2）IP板一边应平行于X射线管的轴线方向。

3）射线源到IP板的距离大于或等于1000mm，保证几何不清晰度很小。

（2）检测图像获取(www.xing528.com)

1）对某缺陷试件，分别采用某类别的IP板，选择适宜的管电压、管电流、曝光时间等透照，获得该条件的检测图像，扫描读出器在不同的扫描点尺寸、相同的其他设置参数下读出检测图像。

2）对某缺陷试件，采用另外类别IP板，重复上面试验，获取的检测图像。

（3）观察与分析检测图像

1）观察某缺陷在不同类别IP板、相同透照参数和相同扫描参数下的显示情况（例如，气孔可识别数量与尺寸的变化，裂纹细节显示情况等）。

2）观察某缺陷在某类别IP板、不同扫描参数下的显示情况（例如，气孔可识别数量与尺寸的变化，裂纹细节显示情况等）。

3）测定检测图像的双丝像质计值（不清晰度，空间分辨率）和线型像质计的像质值（对比度灵敏度）。

4）用表8-4记录实验结果，对实验结果进行分析、总结。

表8-4 IP板类别与扫描点尺寸对缺陷检验影响实验结果

注：表格可按检测图像数目设计。