【摘要】：3）DDA的像素行应平行于X射线管的轴线方向。表8-3 DDA探测器像素尺寸对缺陷检验影响实验结果图8-9 典型缺陷（例）a）人工球孔 b）点焊裂纹 c）铸钢缩孔实验过程透照布置1）在适当厚度、尺寸的同材料垫板上，放置缺陷试件、双丝像质计、线型像质计。2）更换DDA，保持其他透照条件不变，获得该缺陷试件另一DDA的检测图像。3）观察某缺陷在不同DDA的显示情况。表8-3 DDA探测器像素尺寸对缺陷检验影响实验结果注：表格可按检测图像数目设计。
实验内容
采用两种不同像素尺寸的分立辐射探测器（DDA），在同样透照条件下获取缺陷、双丝像质计、线型像质计的检测图像，对图像的缺陷细节变化、双丝像质计及线型像质计的可识别情况进行比对。
实验器材
X射线机（焦点尺寸已知或测定）；DDA像素尺寸：200μm与127μm（或其他尺寸像素）；双丝像质计1只与适宜的线型像质计。
缺陷试件：气孔、裂纹、缩孔。气孔尺寸应成系列变化，裂纹、缩孔应具有从小到大的细节变化，如图8-9所示。
图8-9 典型缺陷（例）
a）人工球孔（11个球孔，直径尺寸从0.33mm至1.40mm） b）点焊裂纹 c）铸钢缩孔
实验过程
（1）透照布置
1）在适当厚度、尺寸的同材料垫板上，放置缺陷试件、双丝像质计、线型像质计。
2）垫板放置在DDA上，并使双丝像质计长边平行于DDA像素行方向。
3）DDA的像素行应平行于X射线管的轴线方向。(www.xing528.com)
4）射线源到DDA的距离：700mm或1000mm。
（2）检测图像获取
1）对某缺陷试件，选择适宜的管电压与管电流透照，获得该条件下DDA的检测图像。
2）更换DDA，保持其他透照条件不变，获得该缺陷试件另一DDA的检测图像。
（3）观察与分析检测图像
1）从双丝像质计图像测定两幅检测图像的不清晰度（空间分辨率）值。
2）从线型像质计图像测定两幅检测图像的像质值（对比度灵敏度）。
3）观察某缺陷在不同DDA的显示情况（例如，气孔可识别数量与尺寸的变化）。
4）用表8-3记录实验结果，对实验结果进行分析、总结。
表8-3 DDA探测器像素尺寸对缺陷检验影响实验结果
注：表格可按检测图像数目设计。
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