双厚板和像质计测定试验规定

考虑到五槽楔（圆底）试件槽的设计复杂，其设计要求对标准也仅是非强制性的内容，下面仅简要介绍使用双厚（度）板与单独像质计的测定系统基本性能试验的规定内容。

1.试验的一般要求

双厚板放置在射线束中的位置应与检测工件相同。放置时，双厚板放置IQI侧应面向射线源。

图7-5 双厚板与像质计位置

双丝像质计放置应放置在双厚板的较薄区，如图7-5所示，两个ASTM E1025的平板孔像质计应分别放置在每一板上，每个质量指示器应适于该厚度所要求的对比度灵敏度（1-1T至4-4T）。

透照参数中，射线源焦点应与实际应用相同，射线源与DDA的距离、双厚板与DDA的距离应与检测工件相同。X射线的透照电压（kV）和管电流（mA）应与实际应用相同。

在采集图像前，应按制造厂推荐方法对DDA的偏置、增益、坏像素进行校准（修正）。

2.空间分辨率测定(www.xing528.com)

在满足上面要求下，采集测定需要的图像。从获得的图像建立双丝IQI轮廓图。该图是以覆盖双丝IQI宽度近似60%区的像素灰度值，使用DDA系统的软件建立像素幅度分布图——轮廓图如图7-6所示。从该轮廓图确定丝对图像深度（轮廓中间）小于20%的丝对，以其中（直径）最大的丝对确定空间分辨率。空间分辨率为该丝对的丝间距，记为SR_min。

图7-6 双丝像质计测定图像

3.信噪比（SNR）测定

从获得的图像（图7-5）画出四个最少包含50×50个像素的目标区（图7-5中四个方形阴影区），它们应互不覆盖。用DDA系统的软件，测定各区的信号平均值GV和标准差σ。按下式计算不同厚度区的信噪比。

从该信噪比值不难转换为规格化信噪比值。