DDA基本空间分辨率测定规定详解

1.测定试验的一般要求

1）测定试验使用双丝像质计。

2）射线束应采用适当准直器限制在仅照射DDA区，射线束达到DDA的照射路径上应无任何其他物体（除双丝像质计）。

3）测定图像采集应在坏像素修正、设定的增益和A/D转换下进行。

2.成像透照布置

如图7-1所示，射线源到DDA的距离应不小于1000mm，应保证对于使用的焦点尺寸、放大等条件下，所产生的几何不清晰度符合ASTM E1742标准的有关规定，见表7-1（其他标准一般规定所产生的几何不清晰度应不大于测定不清晰度值的1/10，这应是正确的规定）。

图7-1 试验布置

表7-1 ASTM E1742标准表4（第6.23条）规定

3.双丝像质计放置

双丝像质计直接放置在DDA上，与行（或列）成2°～5°范围角。若DDA不具有方向性像素，则应分别在平行与垂直方向成像。

4.试验成像参数

射线能量选择如下：(www.xing528.com)

1）DDA工作在160kV以下时，采用90kV，无预滤波；

2）DDA工作在160kV以上时，采用220kV，无预滤波。

管电流选择应使无双丝像质计处的灰度值为有双丝像质计处的灰度值的80%（±5%）。如未达到，则应降低管电流或增加射线源到DDA的距离。

5.试验结果计算

试验得到的图像如图7-2所示。不使用其他图像处理，从图像中找出：

1）第一个深度（dip）大于20%的丝对，其直径记为D₁（图中D7），深度记为R₁（28.3%）；

2）第一个深度（dip）小于20%的丝对，其直径记为D₂（图中D8），深度记为R₂（9.9%）。

图7-2 试验得到的图像

按下式计算DDA的基本空间分辨率：

其实际是按线状影像的瑞利判据[深度（dip）20%]，并按线性内插确定所求值。