DDA检测系统技术控制方案

1.探测器响应校正

探测器响应校正是DDA检测系统技术控制的一个基本方面。

DDA探测器的各个单元性能不可能完全一致，本底噪声可能不同，增益性能可能不同。这种性能差异可导致虚假检测信号，因此检测系统软件必须包括适当的探测器响应校正程序。通过探测器响应校正，使探测器各个单元可在一定限度内，对检测信号做出相同的响应。如果不进行探测器响应校正，几乎不能进行正常的检测工作。

探测器响应校正程序的质量，决定了可实现的校正效果。一般应测定（对检测工件材料、典型射线能量等条件下）探测器响应校正曲线，了解探测器响应校正程序的性能。

该曲线作用类似于胶片感光特性曲线，是正确设计检测技术曝光量参数的基本数据。

2.透照参数

对于分立探测器阵列（DDA）数字射线检测系统，关于透照参数控制，主要是透照电压通常可选取一般标准限定值的上限（图5-3），也可适当超过该上限值；曝光量（管电流与积分时间的积，或管电流与帧速、叠加帧数）应保证检测图像达到较高的信噪比，可采用的最高曝光量决定于探测器的特性和探测器响应校正程序的效果。(www.xing528.com)

图5-3 最高透照电压与透照材料、厚度关系

1—铜、镍合金 2—钢 3—钛及钛合金 4—铝及铝合金

3.检测技术系统稳定性

DDA探测器的性能，随着使用会发生改变，会出现新的坏像素，这些都可导致检测技术系统性能发生改变。为保证获得正确的检测结果图像，必须注意检测技术系统的稳定性控制。尽管各种射线检测技术都必须考虑这个问题，但与胶片射线照相检测技术比较，对于DDA探测器数字射线检测系统可能是更应考虑的方面。