【摘要】：必须注意的是，在使用寿命期中数字射线检测系统的性能可能发生变化，甚至超出检验应用性能限制的要求，因此必须进行检测系统性能长期稳定性试验控制。定期性能核查试验的周期，应考虑系统使用情况与客户共同确定。表4-10 DDA系统的性能测定长期稳定性试验项目表4-11 CR系统性能测定试验项目
必须注意的是，在使用寿命期中数字射线检测系统的性能可能发生变化，甚至超出检验应用性能限制的要求，因此必须进行检测系统性能长期稳定性试验控制。包括：定期性能核查试验；系统修理、更换、更新软件后（系统改变）的特定性能测定试验。通过这些性能测定试验，决定系统是否应退出检验工作。
为了评定系统性能的稳定性，在系统投入检验工作时，应测定系统的初始性能数据，并依据检验对象的特定要求，设置出允许的性能变化限制数据，作为以后评定系统性能是否符合检验要求的依据。
对分立辐射探测器构成的数字射线检测系统（DDA系统），表4-10概括了长期稳定性试验项目。对于IP板构成的数字射线检测系统（CR系统），表4-11概括了性能测定试验项目。具体试验可参考相关标准或制造厂推荐的方法。定期性能核查试验的周期，应考虑系统使用情况与客户共同确定。
试验所使用的技术参数（射线、透照等）程序等，应是用于工件检验的技术和程序。这些应用技术和程序应由执行无损检测的机构给出，并编写成书面文件程序，执行它们应能稳定给出所要求的检验结果和质量级别。一般说，它应得到客户的同意。
表4-10 DDA系统的性能测定长期稳定性试验项目(www.xing528.com)
表4-11 CR系统性能测定试验项目
免责声明：以上内容源自网络，版权归原作者所有，如有侵犯您的原创版权请告知，我们将尽快删除相关内容。
