首页 理论教育 如何使用试块测定薄板的厚度?

如何使用试块测定薄板的厚度?

时间:2023-06-22 理论教育 版权反馈
【摘要】:设厚度4mm为未知厚度,用厚度2mm、6mm作为试块确定需要的常数即,可在测量部位附加同样材料、具有适当平面尺寸的小厚度差试块,从检测图像的灰度值确定常数值C。与厚度2mm的厚度差为与厚度6mm的厚度差为与厚度6mm的厚度差为可见,这样测定的误差可控制在较小范围。

如何使用试块测定薄板的厚度?

厚度测定问题可分为两种情况,一是某部位厚度差测定;二是工件部位由两种不同材料物体构成,需要测定各部分(不同材料物体)的厚度。

1.厚度差测定方法

厚度差测定是在某技术检测时,工件检测图像上两邻近部位的灰度值分别为G1G2,确定它们对应的厚度差ΔT

按照基本理论的叙述,当厚度差ΔT很小时,对应的图像亮度对比度

由于灰度是眼睛对亮度的感觉,可认为就是亮度,因此上式可写为

由于灰度是眼睛对亮度的感觉,可认为就是亮度,因此上式可写为

从此可写出

从此可写出

此式用于ΔG很小的情况(ΔG≈0),即应转换为微分情况

此式用于ΔG很小的情况(ΔG≈0),即应转换为微分情况

对特定的工件区、特定的检测技术,因μn都是定值,故可记为常数

对特定的工件区、特定的检测技术,因μn都是定值,故可记为常数

这样就有

这样就有

由于函数978-7-111-48718-0-Chapter04-108.jpg的原函数为lnx,故上积分结果为

由于函数978-7-111-48718-0-Chapter04-108.jpg的原函数为lnx,故上积分结果为

为从灰度差确定厚度差,需要确定检测技术的常数值C。常数值C可从理论上确定,但一般可简单地采用试块确定。按上式有

为从灰度差确定厚度差,需要确定检测技术的常数值C。常数值C可从理论上确定,但一般可简单地采用试块确定。按上式有

即,可在测量部位附加同样材料、具有适当平面尺寸的小厚度差试块,从检测图像的灰度值确定常数值C。这样对一定范围内的厚度差都可以测定。

例如,对适当尺寸的厚度为2mm、4mm、6mm的平板,在获取的检测图像上测定的灰度值分别为41000、33000、26000。设厚度4mm为未知厚度,用厚度2mm、6mm作为试块确定需要的常数

即,可在测量部位附加同样材料、具有适当平面尺寸的小厚度差试块,从检测图像的灰度值确定常数值C。这样对一定范围内的厚度差都可以测定。(www.xing528.com)

例如,对适当尺寸的厚度为2mm、4mm、6mm的平板,在获取的检测图像上测定的灰度值分别为41000、33000、26000。设厚度4mm为未知厚度,用厚度2mm、6mm作为试块确定需要的常数

从它可确定未知厚度(这里为4mm)与厚度2mm、6mm的厚度差。与厚度2mm的厚度差为

从它可确定未知厚度(这里为4mm)与厚度2mm、6mm的厚度差。与厚度2mm的厚度差为

与厚度6mm的厚度差为

与厚度6mm的厚度差为

可见,这样测定的误差可控制在较小范围。

2.两种不同物体结构的厚度测定原理

对于工件结构为两种不同物体(例如,管道的保温层与本体结构)构成的厚度测定,需要采用双能射线检测技术。双能射线检测技术是用高、低两种不同能量的射线透照工件。双能射线检测技术测定工件两种不同材料物体厚度的原理如下。

假定工件结构的两种物体厚度分别为T1T2,采用的X射线的能量分别为E1E2,两种物体对不同能量射线的衰减系数分别为μ1E)和μ2E),入射射线强度为I0,透射射线强度为I。依据射线的衰减规律,则可写出两次透照的透射强度方程

可见,这样测定的误差可控制在较小范围。

2.两种不同物体结构的厚度测定原理

对于工件结构为两种不同物体(例如,管道的保温层与本体结构)构成的厚度测定,需要采用双能射线检测技术。双能射线检测技术是用高、低两种不同能量的射线透照工件。双能射线检测技术测定工件两种不同材料物体厚度的原理如下。

假定工件结构的两种物体厚度分别为T1T2,采用的X射线的能量分别为E1E2,两种物体对不同能量射线的衰减系数分别为μ1E)和μ2E),入射射线强度为I0,透射射线强度为I。依据射线的衰减规律,则可写出两次透照的透射强度方程

对二式分别改写为

对二式分别改写为

从而可求得:

从而可求得:

即,只要确定了工件两种物体的射线衰减系数,测定了两次透照时测定部位的射线透射比,则可按上面两式计算出工件两种物体的厚度。

方程有解的条件是

/2宽度作为测定细节尺寸的基本

因此应正确地选取二次透照的射线能量。

因此应正确地选取二次透照的射线能量。

免责声明:以上内容源自网络,版权归原作者所有,如有侵犯您的原创版权请告知,我们将尽快删除相关内容。

我要反馈