图3.2.3 [Cu(phendione)(DAP)]2+与dsDNA相互作用的循环伏安图。插图:氧化峰电流(Ipa)与扫速平方根(ν1/2)的关系图
在含2.0×10-5mol/L[Cu(phendione)(DAP)]2+的Tris-HCl缓冲溶液中加入不同量的dsDNA进行微分脉冲伏安(DPV)测定,结果表明随着dsDNA量的不断增大,[Cu(phendione)(DAP)]2+的氧化峰电流Ipa不断降低(图3.2.4),表明了配合物与dsDNA之间的相互作用。当dsDNA浓度CDNA在3.34×10-5mol/L和4.01×10-4mol/L范围内变化时,[Cu(phendione)(DAP)]2+在加入dsDNA前后的峰电流差值ΔI与CDNA呈良好的线性关系,ΔI/(μA)=1.12CDNA/(mmol/L)+0.116,γ=0.988。
参考文献[200-201],根据不同dsDNA浓度下的结合平衡电流与加入DNA的浓度计算了配合物[Cu(phendione)(DAP)]2+与dsDNA的结合常数和结合位点:
Xb={b-(b2-2K2CtCDNA/s)1/2}2KCt (3-1)
Xb=(I2-Io2)/(Isat2-Io2) (3-2)
b=1+KCt+KCDNA/2s (3-3)
式中,Xb为摩尔结合分数,I为配合物中加入DNA后得到的峰电流,Io和Isat分别为加入DNA前和过量DNA后得到的峰电流,K为配合物与DNA的结合常数,s为每分子配合物与dsDNA的碱基对的结合位点。
图3.2.4 [Cu(phendione)(DAP)]2+与不同量dsDNA相互作用的微分脉冲伏安图(www.xing528.com)
图3.2.5中的点为根据图得到的dsDNA浓度CDNA对应的Xb值,将各数据点通过Origin软件按公式(3-1)进行非线性拟合得到图3-6中曲线和参数K=9.6×104L/mol和s=2.6,因为检测的配合物的氧化过程,因此可知配合物的还原态[Cu(phendione)(DAP)]+与dsDNA的结合常数K+为9.6×104L/mol,平均每个[Cu(phendione)(DAP)]+与2.6个碱基对结合。
如循环伏安实验,在DPV实验中,随着dsDNA浓度的不断增大,配合物的氧化峰电位Epa也逐渐正移,根据电极反应式量电位关系E0'=E1/2=Ep+ΔEa/2,(E1/2为直流极谱中的半波电位,Ep为微分脉冲伏安峰电位,ΔEa为脉冲幅度)关系,将E1/2对dsDNA和[Cu(phendione)(DAP)]2+浓度的比值R作图,获得E1/2与R的关系曲线(图3.2.6),当dsDNA的浓度达到4.01×10-4mol/L时,E1/2基本不再变化,因此该体系的极限峰位偏移值为+20 mV。根据Bard[128]理论,配合物加入DNA后半波电位的变化可用于计算配合物氧化态和还原态与DNA的结合常数比。
在本实验中,对于1电子反应过程,配合物的还原态和氧化态与dsDNA的结合平衡常数K+、K2+与dsDNA结合前后的电极反应式量电位、有如下关系式[128]:
图3.2.5 Xb与加入dsDNA浓度CDNA的拟合关系曲线
对于+20 mV的极限电位偏移,根据上述公式求得K+/K2+=2.2,表明还原态的配合物[Cu(phendione)(DAP)]+与dsDNA的结合能力是氧化态[Cu(phendione)(DAP)]2+与dsDNA结合能力的2.2倍,符合嵌插作用模式的特征。在根据前面计算的K+值,可得到[Cu(phendione)(DAP)]2+与dsDNA的结合常数K2+约为4.3×104L/mol。
图3.2.6 DNA浓度CDNA与[Cu(phendione)(DAP)]2+浓度比值R对配合物E1/2的影响
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