在有磁介质存在的稳恒磁场中,磁场强度H和磁感应强度B在空间逐点变化,遵守的规律是安培环路定理和磁场高斯定理,其微分形式分别为
×H=j0 (2-6)和
×H=j0 (2-6)和
·B=0 (2-7)
若磁介质为各向同性均匀磁介质,则B与H之间的关系为
B=μμ0H (2-8)
式中,μ为介质的磁导率。
由式(2-6)和式(2-7)可得安培环路定理和磁场高斯定理的积分形式为
·B=0 (2-7)
若磁介质为各向同性均匀磁介质,则B与H之间的关系为
B=μμ0H (2-8)
式中,μ为介质的磁导率。
由式(2-6)和式(2-7)可得安培环路定理和磁场高斯定理的积分形式为
在两种磁介质分界面处可以做如下推导
在两种磁介质分界面处可以做如下推导
式中,n为磁介质分界面的单位法线矢量;B1和B2分别为磁介质1和磁介质2内的磁感应强度。
由式(2-11)可以得到
n·(B2-B1)=0或B2n=B1n (2-12)
式(2-12)表明,介质分界面两侧磁感应强度的法向分量是连续的。(www.xing528.com)
另外,由安培环路定理有
式中,n为磁介质分界面的单位法线矢量;B1和B2分别为磁介质1和磁介质2内的磁感应强度。
由式(2-11)可以得到
n·(B2-B1)=0或B2n=B1n (2-12)
式(2-12)表明,介质分界面两侧磁感应强度的法向分量是连续的。
另外,由安培环路定理有
由式(2-13)可得
(H1-H2)·τ=H1τ-H2τ=i0·(τ×n) (2-14)
若介质分界面上传导电流i0=0,继而可得
H2τ=H1τ (2-15)
式(2-15)表明,在两介质分界面上无传导电流时,介质分界面两侧磁场强度的切线分量连续。
所以,磁在介质分界面连续的条件为:①介质分界面两侧磁感应强度B的法向分量连续;②介质分界面两侧磁场强度H的切向分量连续。若介质分界面两侧磁介质的磁导率分别为μ1和μ2,则由B=μμ0H可得介质分界面两侧B的切向分量和H的法向分量有如下关系,即
由式(2-13)可得
(H1-H2)·τ=H1τ-H2τ=i0·(τ×n) (2-14)
若介质分界面上传导电流i0=0,继而可得
H2τ=H1τ (2-15)
式(2-15)表明,在两介质分界面上无传导电流时,介质分界面两侧磁场强度的切线分量连续。
所以,磁在介质分界面连续的条件为:①介质分界面两侧磁感应强度B的法向分量连续;②介质分界面两侧磁场强度H的切向分量连续。若介质分界面两侧磁介质的磁导率分别为μ1和μ2,则由B=μμ0H可得介质分界面两侧B的切向分量和H的法向分量有如下关系,即
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