其他有效的分析技术简介

1.透射电子显微镜分析技术

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）具有很高的分辨率，能区分扫描电子显微镜不易区分的形貌细节，能确定第二相的结构，如果配有能谱还能测定第二相的成分。但透射电子显微镜不能做400倍以下或很高倍数的定点连续观察，制样过程较复杂，有时还会产生假象。为了保证不出现假象，一般用重复法，即在同一部位反复观察多次。透射电子显微镜如图2-10所示。

2.电子探针分析技术

电子探针（EP）的主要特长在于能测量几立方微米体积内材料的化学成分，如测量细小夹杂物或第二相的成分，检测晶界或晶界附近与晶内相比有无元素富集或贫化等。但是，它不能代替常规的化学分析方法来确定总体含量的平均成分；不能做H、He、Li三元素的分析，而且对Be（z=4）到Al（z=13）等元素的灵敏度都很低；也无法检测晶界面上的微量元素，如可逆回火脆性晶界面上的富集元素。

3.X射线衍射分析技术(www.xing528.com)

X射线衍射分析包括粉末法和衍射法。粉末法可确定断口上的腐蚀产物、析出相或表面沉积物，该法一次可获得多种结构和成分。衍射法用来测定第二相或表面残余应力，它的灵敏度高、方便、快速，能分析高、低温状态下的组织结构。但衍射法不能同时记录许多衍射线条的形状、位置和强度，不适合分析完全未知的试样。

图2-10 透射电子显微镜