光缆在贮存、运输和使用期间，温度的变化可能导致光纤衰减发生变化。这是因为光纤的热胀系数与光缆其他材料的热胀系数不同，引起光纤弯曲或拉紧，导致光缆衰减伴随着温度的变化而变化。本试验适用于用温度循环来验证光缆，以模拟温度变化时光缆衰减的稳定性。
试验设施主要是一个能容纳待检验的光缆试样，且其温度可控制，以保持在规定试验温度±3℃以内的气候室，也就是俗称的高低温箱。
为保证试验时衰减变化的准确测量，需要足够长度的光缆样品，并且选取的光纤数量和分布应该具有代表性。
光缆的弯曲半径大小可能影响结果，因此，光缆试样处理条件宜尽可能实现接近正常的使用条件。为了获得可重复的数值，光缆试样应当以松弛的圈或绕在盘具上放入气候室中。同时考虑光缆盘具的热胀冷缩可能会对试验结果产生影响，因此，一般如下：
（1）卷绕直径应当足够大（可显著大于光缆交货盘直径），以保持光纤适应膨胀差和收缩差的能力。
（2）应抑制由于温度处理所产生的光缆膨胀（或收缩）受到限制的任何危险性。尤其宜特别小心避免试验期间在光缆上残留张力。例如，不推荐紧绕在缆盘上，因为这会限制低温下光缆收缩，同时，多层紧绕能限制高温下的膨胀。
（3）推荐采用松绕方式，例如大直径成圈，带柔软层或简易零张力装置的缓冲缆盘等。
当需要时，为了限制受试光缆长度，允许把光缆中几根光纤连接起来后进行测量。应限制接点数量，宜把接点放置在高低温箱外面。
试验应按图9.6.1所示的流程完成一个循环。
（1）试样在（20±5）℃下的高低温箱内预处理24小时，并测定在初始温度下衰减的基准值α0。
（2）以适当的冷却速率把高低温箱内的温度降低到适当的低温TA，温度稳定后，保持适当时长t1，测量光纤衰减α1；(www.xing528.com)
（3）以适当的加热速率把高低温箱内的温度升高到适当的高温TB，温度达到稳定之后，试样暴露于该高温条件下适当时间t1，测量光纤衰减α2；
（4）以适当的冷却速率把高低温箱内的温度降低到环境温度值，再次测量光纤衰减α3。
这个程序构成一个循环（图9.6.1）。一般情况下，光缆应经受两个温度循环，时长t1＝24小时，各光纤的附加衰减α1－α0以及α2－α0值小于规定值。残余附加衰减α3－α0应没有变化（≤0.02dB／km）。
图9.6.1 一个循环的温度循环图
根据客户要求，或光缆在贮存和使用时的温度范围不同，也允许按图9.6.2用一个组合试验程序来代替两个不同温度的试验。其中TA1，TA2，TB1，TB2以及t1按照规定或与客户协商的结果执行。
图9.6.2 组合试验温度循环图
试验过程中，除附加衰减满足规范外，不应出现光纤断裂、光缆护套与（或）缆芯元构件的损坏。
在拉伸性能试验时分析过，很多时候需要通过高低温试验来配合验证光纤余长，这是一个很好的方法。
另外，日常工作中为了方便，一般都是以交货盘来进行温度循环试验，会出现难以通过试验的情形。特别是一些对温度异常敏感的光缆结构，如紧套光纤、骨架式光缆以及大张力的ADSS光缆等，这些缆芯结构对热胀冷缩明显，而余长控制能力又有限。根据经验和本试验条件的要求，这些光缆温度循环试验时是可以成圈或松绕在有软垫层的、大直径缆盘上，如果光缆长度不足，其中的光纤是可以通过相互连接来满足测试精度要求的。通过这样的试验安排，更合理判断光缆性能是否满足贮存和使用要求。
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