光纤温度循环试验是通过模拟光纤在储存、运输和使用期间可能经受的最坏温度变化情况来确定光纤对温度变化的衰减稳定性，即光纤的衰减温度特性。试验是将受试的整盘光纤放在气候室内，在规定的温度范围内进行温度循环试验，以确定温度变化时光纤的附加衰减量。光纤可以是多模光纤，也可以是单模光纤。B类单模光纤试样长度一般不少于2km，A1类多模光纤不少于1km。
降温、保温、升温、保温、降温过程构成了一个温度循环，如图9.4.1所示。光纤温度衰减特性试验时，一般经历至少两个温度循环过程。
根据表9.4.1所要求的温度循环试验条件，试验时将处于环境温度下的试样光纤置入气候室，并将光纤两端引出气候室外，与稳定光源和光检测系统连接好或与光时域反射计（OTDR）连接好。以要求的冷却速率将气候室温度降到规定的低温TA，待室内温度达到稳定后，接着使试样光纤在TA温度下保温适当的时间t1。然后以要求的加热速率将气候室温度升高至规定的高温TB，待室内温度稳定后，使试样光纤在TB温度下保温适当的时间t1，再以适当的冷却速率将气候室温度降至环境温度。
图9.4.1 温度循环试验过程
表9.4.1 温度循环试验条件
注：根据与用户协商，最低温度也可以为－40℃，最高温度也可以为＋70℃(www.xing528.com)
记录好气候室环境温度T0下测得的光功率P0。开始试验后，记录一个温度循环过程中温度点TA、TB下经过保温时间t1后的输出光功率PA，PB。温度循环试验结束后，按下式计算出光纤的平均附加损耗：
式中：P——分别在试验温度点TA、TB保温后的光功率；
P0——在参考温度T0的光功率；
L——式样长度。
目前一般用光时域反射计（OTDR）直接测量不同温度点的OTDR曲线，从而确定光纤的温度附加衰减量。
为了得到具有重复性的试验结果，试验光纤应松弛地绕在线盘上并置于气候室内。试验结果可能会受到光纤弯曲半径的影响。基于这个考虑，试样松绕成圈并用滑石粉材料处理以便使卷绕在一起的各光纤圈彼此能自由地移动，受试光纤可以以水平或垂直方式绕成最小弯曲直径为150mm，以避免发生宏弯作用。
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