如何检测IGBT引脚极性及性能问题？

IGBT检测包括极性检测和好坏检测,检测方法与增强型NMOS管相似。

1.极性检测

正常的IGBT的G极与C、E极之间不能导通,正、反向电阻均为∞。在G极无电压时,IGBT的C、E极之间不能正向导通,但由于C、E极之间存在一个反向寄生二极管,所以C、E极正向电阻∞,反向电阻较小。

IGBT引脚极性检测与增强型NMOS管相似。在检测IGBT引脚极性时,万用表选择R×1k挡,测量IGBT各脚之间的正、反向电阻,当出现一次阻值小时,红表笔接的引脚为C极,黑表笔接的引脚为E极,余下的引脚为G极。

2.好坏检测(www.xing528.com)

IGBT的好坏检测可按下面的步骤进行。

第1步:用万用表R×1k挡检测IGBT各引脚之间的正、反向电阻,正常只会出现一次阻值小的情况。若出现两次或两次以上阻值小的情况,可确定IGBT一定损坏;若只出现一次阻值小的情况,还不能确定IGBT一定正常,需要进行第二步测量。

第2步:用导线将IGBT的G、E极短接,释放G极上的电荷,再将万用表拨至R×10k挡,红表笔接IGBT的E极,黑表笔接C极,此时指针指示的阻值为∞或接近∞;然后用导线瞬间将C、G极短接,让万用表内部电池经黑表笔和导线给G极充电,让G极获得电压,如果IGBT正常,内部会形成沟道,指针指示的阻值马上由大变小;再用导线将G、E极短路,释放G极上的电荷来消除G极电压,如果IGBT正常,内部沟道会消失,指针指示的阻值马上由小变为∞。

进行以上两步检测时,如果有一次测量不正常,则为IGBT损坏或性能不良。