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制备25-250nm厚度悬臂梁的内应力校准方法研究

时间:2023-06-18 理论教育 版权反馈
【摘要】:对图21.14所示的悬臂梁结构进行了研究。悬臂梁宽度在10~100nm的彼此间隔为10nm,宽度在100~1000nm的彼此间隔为100nm。图21.14 1μm长悬臂梁阵列的掩膜设计在低压氩气和高压氩气下溅镀的两层铬层被用来制造厚度为25~250nm的悬臂梁。薄膜沉积是通过PVD-300UnifilmTM单膜磁电管溅镀系统进行的。图21.15所示为校准后的内应力随氩气压力的变化情况。其测量结果如图21.15所示[30]。该图是通过视频显微镜和扫描式电子显微镜拍摄的。

制备25-250nm厚度悬臂梁的内应力校准方法研究

对图21.14所示的悬臂梁结构进行了研究。该悬臂梁组由一组长10μm的悬臂梁组成。悬臂梁宽度在10~100nm的彼此间隔为10nm,宽度在100~1000nm的彼此间隔为100nm。每组对应5个悬臂梁。

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图21.14 1μm长悬臂梁阵列的掩膜设计(宽度范围为10~1000nm)

在低压氩气和高压氩气下溅镀的两层铬层被用来制造厚度为25~250nm的悬臂梁。在部分情况下,在悬臂梁的上表面上,沉积有一层厚度小于50nm的金薄膜层,它能增加表面对蛋白质抗体的粘附性。

薄膜沉积是通过PVD-300UnifilmTM单膜磁电管溅镀系统进行的。该系统通常能够程序化地可再生地沉积非常均匀的(>99%)同质薄膜,且采用了一个电脑控制的两个自由度轨道和旋转)的行星系统及一个校准装置。该校准装置用于校准沉淀速率与沉积位置的关系。图21.15所示为校准后的内应力随氩气压力的变化情况。尽管沉淀金属层的应力主要由氩气压力决定,但是应力值显示出,应力由沉积力改变而微弱变化。在沉积一定厚度的薄膜后,通过测量标准4in硅晶圆的曲率能获得金属薄膜的应力值。其测量结果如图21.15所示[30]。从图中可以看出,PVD-300UnifilmTM单膜磁电管溅镀系统沉淀的单层铬膜只含拉伸内应力,因此悬臂梁的应力梯度可通过沉积两层铬膜来实现。并且,在两层铬膜中,顶层的拉伸内应力值高于底层。

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图21.15 沉积金属层的内应力随氩气压力的变化情况

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图21.16 释放后的自由支撑纳米悬臂梁局部清晰图像

a)视频显微镜图像 b)扫描电子显微镜图像

图21.16所示为选择性地刻蚀牺牲金属层之后纳米悬臂梁的局部清晰图。该图是通过视频显微镜(见图21.16a)和扫描式电子显微镜(见图21.16b)拍摄的。可以看到,纳米悬臂梁按照设计卷曲起来了。

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