影响硅单晶电化学腐蚀速度的因素有腐蚀液的成分、电极电位、缓冲剂、温度和搅拌,以及光照。
1.腐蚀液的成分的影响 腐蚀液的成分对腐蚀速度影响最大。硅单晶在HNO3+HF溶液中的腐蚀速度,比在KOH或NaOH溶液中的腐蚀速度要大,而在纯HNO3或纯HF溶液中的腐蚀速度却很小。其原因是在后两种情况下,电极反应不能充分顺利进行的缘故。若在纯HNO3溶液中加入一滴HF,就可以明显地增加腐蚀速度。这是因为SiO2与HF形成六氟硅酸水溶络合物,使负极反应得以顺利进行。在纯HF中加入一滴HNO3,也可以大大提高腐蚀速度。因为加入的HNO3可作为一种在正极易被还原的材料,使正极反应顺利进行。缺少电池反应中两个电极反应中任意一个,电化学腐蚀都不能顺利进行。
2.电极电位的影响 硅单晶在不同腐蚀液中,p型硅的电极电位比n型硅的高。电极电位高的构成正极,不受腐蚀。因此同一块单晶中若存在p区和n区,则n区优先受到腐蚀。
硅单晶的电极电位还与其中载流子含量、导电类型有关。一般对于n型硅来说,电阻率越低(即少数载流子空穴越低),电极电位越低。对于p型硅来说,电阻率越低(多数载流子空穴越高),电极电位越高。但是空穴浓度在1016/cm3以上时,电极电位几乎无大变化。所以p型重掺杂单晶断面上电极电位随电阻率变化起伏小。
3.缓冲剂的影响 缓冲剂一般是弱酸弱碱,例如CH3COOH和NH4OH等。在强酸或强碱溶液中加入一定的缓冲剂,就能起到调节酸度(H+)或碱度(OH-)的作用。在HNO3溶液中,H+含量较高,因为HNO3几乎全部电离。但冰醋酸是弱酸,电离度较小。它的电离反应为
在HNO3+CH3COOH溶液中,虽因有HNO3使H+离子含量较高;但是加入CH3COOH后,H+与CH3COO-离子作用生成CH3COOH分子。因为CH3COOH电离度小。因此在HNO3和CH3COOH混合酸中的H+离子含量较低,这是受到缓冲剂调节的结果。硅单晶在酸性溶液中受电化学腐蚀的正极反应为
HNO3+3H+→NO↑+2H2O+3p(8-5)(www.xing528.com)
减少H+离子含量使正极反应变慢,整个腐蚀速度也随之变慢,有利于组织显示。所以,在HF+HNO3抛光液中加入一定量的冰醋酸,就可以使抛光速度变慢。
4.温度和搅拌的影响 腐蚀处理温度越高,腐蚀速度越快。但有时为了改善腐蚀表面质量,希望腐蚀速度变慢,可将温度调低一点。
搅拌可以加快物质的传递速度,使反应物及时离开,有利于反应的进行。没有搅拌时,物质依靠扩散传递,比较缓慢,对反应不利。在腐蚀过程中往往会在腐蚀面析出气体,而妨碍反应的进行,并使局部地点过热。为此,可以采用超声处理,加快气体析出,以改善腐蚀表面质量。
搅拌还能改善腐蚀液的择优性质。所谓择优性质,是指晶体的某些晶面优先受到腐蚀。因此当出现择优腐蚀时,腐蚀坑往往具有一定规则的几何形状。例如,硅单晶在CP4(3份HF+5份HNO3+3份CH3COOH)腐蚀液中腐蚀时,若没有搅拌就会显示择优性,而在强烈搅拌时则不显示择优性。
5.光照的影响 在腐蚀处理时若加光照,半导体就在光照下发出电子和空穴对,而使载流子含量增加。这些电子和空穴正是电极反应所需要的,有利于微电池腐蚀。快速腐蚀时(如化学抛光),一般不受光照的影响,而慢速腐蚀时光照影响就比较大。慢速腐蚀用在缺陷显示上,此时加光照效果会更好一些。
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