硅片自身的性质决定了太阳电池性能的初始光致衰减程度。因此要解决光伏组件输出功率初始衰减问题，就要从解决硅片问题入手。下面就几个方案进行讨论。
1.改进掺硼p型直拉单晶硅棒的质量 在国内，掺硼p型直拉单晶是目前硅棒市场的主流产品，必须认真对待单晶棒的质量，首先是要把好用料质量关。
（1）避免使用低质量的多晶硅料。
（2）严格控制掺入过多低电阻率n型材料，例如IC的废n型硅片等。避免生产高补偿的p型单晶棒。这种硅棒尽管电阻率合适，但硼-氧含量非常高，将导致太阳电池性能出现较大幅度的初始光致衰减。
（3）提高拉棒工艺水平，减少晶体硅中氧含量，降低内应力，降低缺陷密度，改进电阻率的均匀性。
2.利用磁控直拉单晶工艺（MCZ）改进单晶棒产品质量 此工艺不仅能控制单晶硅中的氧含量，也能使硅单晶纵向、径向电阻率均匀性得到改善。这种工艺国内部分拉棒公司已试用。
3.利用区熔单晶硅工艺（FZ）改进单晶棒产品质量 区熔单晶硅工艺避免了直拉工艺中大量氧进入硅晶体的固有缺陷，从而彻底解决了p型（掺硼）太阳电池的初始光致衰减现象。因FZ工艺成本较高，主要用于IC和其他半导体器件的硅片制造。已有公司对FZ工艺进行相关改造，降低了成本。
4.改变掺杂剂用镓代替硼 用掺镓的硅片制作的电池，没有发现太阳电池的初始光致衰减现象。
5.使用掺磷的n型硅片代替掺硼的p型硅片 n型电池可解决光致衰减问题，但在转换效率和制造成本上还没有优势，一些关键工艺还有待解决。
6.提高硅片的加工水平，改进硅片性能的一致性 硅片制造公司不可能在来料抽检当中发现硅片的全部质量问题，但可以通过对每批电池效率的统计分析，考察每批硅片质量的一致性程度。硅片制造公司应使用硅片分选机，将不同的硅片分类，从而向客户提供性能质量一致的产品。
7.硅片先期光照衰减
（1）由于光伏组件的初始光致衰减是由电池的初始光致衰减导致的。对电池片进行先期光照，使电池的初始光致衰减发生在组件制造之前，这样光伏组件的初始光致衰减就非常小了，完全可以控制在测量误差之内。同时也大幅度地减少了光伏组件出现热斑的几率，提高了光伏组件的输出稳定性。
（2）尽管先期光照衰减是一种亡羊补牢的方法，但在硅片质量没有得到有效改善之前，使用此方法是解决光伏组件初始光致衰减问题的有效措施。
8.太阳能电池片组件衰减测试仪 采用新型模拟太阳光灯光源对太阳能组件做定时测试。测试软件系统自动采集太阳能组件在一个测试时间段内，不同时间段输出的测试数据，来形成数据链并形成测试图形，从而自动计算判断测试结果，出具测试报告。根据测试结果来判断太阳能电池片的功率衰减率，从而判断太阳能电池片质量好坏。
（1）工作原理。通过模拟太阳光连续对太阳能组件照射，周期测量。用电子负载控制太阳电池中电流变化，自动测试太阳电池的伏安特性曲线，测试ISC、VOC、Pmax、Vmax、Imax等参数。测试数据送入计算机进行处理，并可以显示、保存和打印出来。
（2）技术参数
1）测量范围：电压0～120V，电流0～30A，功率0～300W。(www.xing528.com)
2）测试精度：电压0.1%，电流0.1%。
3）测试结果重复性：﹤±0.5%。
4）数据采集总时间：可以根据具体需要设定数据采集时间，最短时间大于1min。
5）数据采集间隔时间：最短间隔时间大于1min，可根据需要设定。
6）电源：220（1±10%）V
（3）操作流程
1）打开总电源开关。
2）打开风冷循环开关。
3）打开氙灯1触发开关，至灯亮；打开氙灯2触发开关，至灯亮。
4）打开计算机控制软件系统和测试主机。
5）校准光强，取标准的组件放入测试箱内并连接测试线，关好测试箱，锁好门。
6）按照说明书设置参数，设置好后开始测试。
7）根据标准组件上标明的短路电流来校准光强，通过调节光强使测试短路电流和标明短路电流一致即可，从而使测试箱光强和标准测试光强接近一致。连续测试至少五次，保证光强稳定。
8）取出标准组件放入备测组件并连接测试线，关好测试箱，锁好门。
9）测试完毕后，计算机将自动发出提示，测试系统自动保存测试报告，测试结束。
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