1.试样
试样的标准形状为圆环形,如图8-2所示。当沿圆环的轴线磁化时,由于磁路是闭合的,故没有退磁磁场,同时由于漏磁通极小,因此测试精度较高(为减小由于环形试样径向磁化的不均匀性,应使环形试样的内外径尽量接近)。图中W1为给试样提供磁化场的磁化线圈,W2为测量线圈,产生的感应电动势由冲击式检流计Ⓖ显示。
2.试验原理
闭磁路样品冲击法的测量原理如图8-3所示。
图8-2 闭磁路试样
W1—磁化线圈 W2—测量线圈 D—试样截面的平均直径 Ⓖ—冲击式检流计
冲击法测量闭磁路试样的静态磁性,实际上是测定不同磁化电流所对应的试样的磁通密度B。测量时Wl经变阻器R1由直流电源供电。在测量基本磁化曲线时,利用Kl来改变磁化电流的方向,利用K3接通而使R2短路去除辅助电路。而在测量磁滞回线时,则利用K3的断开使变阻器R2辅助电路工作来调节磁化电流。和两电流表用来测量磁化电流。双刀双掷开关K2用来接通W1的电源,如需要对冲击检流计进行分度时,接通互感器T的初级线圈。测量时,为使试样从退磁状态H=0、B=0开始测量,通常采用交流退磁法,即在试样上加一低频交变磁场,磁场强度由不小于材料矫顽力Hc10倍的值均匀地减小至零。
测量基本磁化曲线时,为使磁化电流从小到大依次变化,R1应从最大值开始逐渐减小。为保证试样磁状态的稳定,必须用每一个选定的磁化电流对试样进行磁锻炼,即用K1换向数次。磁通密度按下式计算:
图8-3 冲击法测量原理
式中 B——磁通密度,单位为T;
Cb——冲击常数;(www.xing528.com)
s——试样截面积,单位为mm2;
N2——测量线圈的匝数;
α——检流计光点的最大偏移量,单位为mm。
当电源通过磁化线圈W1施加一个脉冲电流i时,根据安培环路定律,在螺线环中产生的磁场按下式计算:
式中 H——磁场强度,单位为A/mm;
N1——磁化线圈的匝数;
D——试样截面的平均直径,单位为mm;
i——脉冲电流,单位为A。
根据测量和计算出的Hi、Bi,即可绘出如图8-4所示的基本磁化曲线。
图8-4 冲击法测得的基本磁化曲线
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