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基于数值比较器的密码锁电路制作实施方案

时间:2023-06-15 理论教育 版权反馈
【摘要】:两个确认键P、S置右侧,相当于两个集成密码锁存器使能端接地,处于锁存状态。两组密码数据由锁存器送入数值比较器。表4-7 基于数值比较器密码锁电路的材料清单3.元器件识别与检测对于电阻、三极管、数值比较器的测试检查,与上一任务相同。对于锁存器,按图4-11接线进行功能检查。对于密码输入与锁存级,测试开关提供的高、低电平是否能到达锁存器输入端,在锁存器的控制端为高电平时,对应输出端是否有信号输出。

基于数值比较器的密码锁电路制作实施方案

1.电路工作过程分析

(1)初始状态。两个确认键P、S置右侧,相当于两个集成密码锁存器使能端接地,处于锁存状态。

(2)通电后,通过开关输入二进制数密码,输入完一组后,将确认键先置左侧,后置右侧,锁存器接收输入的密码并保存下来。

(3)两组密码数据由锁存器送入数值比较器。当两组数据相同时,数值比较器中表示两数相等的输出端输出逻辑高电平,此高电平会使三极管饱和,从而锁的开启电路形成回路,将锁打开;当两组数据不同时,数值比较器中表示两数相等的输出端输出逻辑低电平,三极管不可能工作,锁的开启电路是断开的,无法将锁打开(实训中使用发光二极管来模拟开启电路)。

2.器件、器材

实训电路所需器材清单如表4-7所示。

表4-7 基于数值比较器密码锁电路的材料清单

3.元器件识别与检测

(1)对于电阻、三极管、数值比较器的测试检查,与上一任务相同。

(2)对于锁存器,按图4-11接线进行功能检查。13脚连接的开关SW0用来模拟控制(时钟)信号,开关SW1用来产生要输入的数据。1D输入端测试完后,SW1的动端改接至2D端。之后,SW0的动端改接至4脚,将SW1的动端先后接在6脚、7脚测试3D、4D两个输入端的情况。将检查结果填写在表4-8中。

图4-11 功能检查电路图(www.xing528.com)

表4-8 D锁存器的功能检查表

4.电路组装

(1)元器件布局

使用多孔电路板来搭建电路,先规划好布局。通常是基于原理图布局,即同属于一个功能单元的元器件放在一起、输入与输出分置在板的两侧。先分开放置两个比较器芯片、两个三极管,再放置其他的元器件。

(2)焊接与线路连接

调整元器件达到合适位置后,再将元器件引脚弯折以固定位置,然后对照原理图进行焊接,通过使用连接导线,确保焊接好的电路板为单面板。

焊接完后,对照原理图进行检查,使用万用表的连通检查功能查看电路板上的电气连接是否连通,先检查电源的连接,再检查信号输入的连接、级联的连接,最后检查输出。

5.功能检测与调试

(1)先分级检查,再整体测试。将电路看成3级:密码输入与锁存、比较、开关电路。

(2)对于密码输入与锁存级,测试开关提供的高、低电平是否能到达锁存器输入端,在锁存器的控制端为高电平时,对应输出端是否有信号输出。

(3)比较级,在两组数据端加入已知信号,查看输出是否与已知情况一致。对于开关电路,分别加入0.4V、3V的电压信号,发光二极管分别是不亮和点亮。如果均正常,则级联后进行整体测试。

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