校准要求：溯源性和周期优化

目录

1.目的……………………………………………………………………………………547

2.范围……………………………………………………………………………………547

3.定义……………………………………………………………………………………547

4.实验室职责……………………………………………………………………………547

5.适用文件………………………………………………………………………………547

6.通则……………………………………………………………………………………547

7.要求……………………………………………………………………………………547

7.1 校准溯源性…………………………………………………………………………547

7.2 有校准要求的测试设备的校准周期………………………………………………549

1.目的

本文件旨在为校准溯源性和校准周期建立一个统一的要求以确保测试结果的一致性和可重复性。

2.范围

本文件包含的要求适用于依据ISO/IEC 17025要求进行校准的实验室设备。

3.定义

只适用于这些要求的特殊定义——无。

4.实验室职责

实验室应具有适当的程序以确保校准溯源性和校准周期的要求得到满足。

5.适用文件

文件号:ISO/IEC 17025第二版,2005-05-15。

标题:检测和校准实验室能力的通用要求

6.通则

应遵照本文件的要求确保测试的一致性和可重复性。

7.要求

7.1 校准溯源性

7.1.1 如果校准是按照ISO/IEC 17025《检测和校准实验室能力的通用要求》的要求由下述机构之一完成的,那么校准就应认为是可以溯源的。(www.xing528.com)

A.设备的校准是由国家计量机构完成的。

B.设备的校准是由通过ISO/IEC 17025认可的校准实验室完成的。

C.设备的校准是由一个内部的或外部的校准实验室完成的。该实验室需接受来自CBTL、NCB或其内部责任部门的年度评审,且被证明符合ISO/IEC 17025的要求。

这些评审应由具备ISO/IEC 17025资质的评审员或校准人员来实施。

条款A的注:只有当获认可的校准实验室不可用或实际不能使用时,才可以使用没有被认可的外部校准实验室。

A、B、C条款的例外情况:对于特殊的设备,当没有获认可的校准实验室可用时,则只要使用的校准标准可溯源至国家或国际测量单位,该设备可由设备制造商来进行校准。校准证书中应包括溯源链的识别以及测量不确定度的评估。

7.1.2 校准应通过一条连接到下述各项的不间断的比较链来完成:

A.SI国际单位制测量单位；

B.基础物理常量；

C.依据测量特性,A和B不存在时,使用有证标准物质。

7.2 有校准要求的测试设备的校准周期

7.2.1 有校准要求的所有测试设备在投入使用前都应进行初始校准,之后,最长的名义校准周期应该为

A.电子、电气和机械测试设备为一年；

B.由不易毁坏的固体材料制成的机械测试设备为三年；

C.设备制造商推荐的校准周期；

D.如果设备是“故障安全”的,即设备的失效状态对于使用者显而易见(实验室有程序要求使用者在使用前对设备进行检查),可将之处于“只有初始校准(ICO)”状态。可设置为ICO状态的设备举例如下:钢直尺、卷尺、校准允差±1%的4.5千克或以上的砝码、直径大于等于3mm带有钝头的单片钢探针、量筒、温度计、钢制冲击球、具有防止变形的整体结构不带有移动部件的钢制或塑料探针。

注(资料性):有关ICO测试设备的概念的附加指南可参照NCSLRP-1第8章。

7.2.2 如果每次使用前都能与已校准的天平进行校验,则砝码就不需要进行校准,但校验应形成文件。

7.2.3 对于使用频率高或对使用条件要求苛刻的精密测试设备,应缩短其校准周期(例如:每6个月、3个月、每周或每次使用前)。

7.2.4 非频繁使用的测试设备可用“使用前校准”的状态来代替定期校准。

7.2.5基于以下原因校准周期可延长,但其理由必须形成文件:

A.对于一些无源电气测试设备,例如电流分流、电流互感器、电压互感器,如果按初次校准周期结果良好而且不经受苛刻使用条件,就可将校准周期延长至3年。

B.如果实验室程序充分考虑砝码的使用并且有物理检查和/或期间核查的条款,则砝码的校准周期可以延长至5年。

C.有充分的校准数据可以建立一种统计趋势或基于测试设备的使用经验,在较长周期内能确保良好的测量结果。

注(资料性):校准周期的建立和调整附加指南可参照NCSLRP-1,校准周期的建立和调整,1996年1月。